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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0307204 (1999-05-07) |
우선권정보 | JP0140456 (1998-05-08) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 28 인용 특허 : 4 |
A pattern formed on reticle is raster or step-and-repeat scanned with a charged particle beam and is illuminated in consecutive order, and a pattern image of a sub-field, which is illuminated, is to be formed on a certain position of a radiation sensitive substrate. On the radiation sensitive substr
[ What is claimed is:] [1.] A charged particle beam transfer method, comprising the steps of:(a) forming a pattern to be projected on a magnified reticle, the reticle is divided into plural stripes which have a longer side and a shorter side and where a reticle stage and a substrate stage are moving
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