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Method for the monitoring of integrated circuits 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • G06F-011/00
출원번호 US-0025193 (1998-02-18)
우선권정보 DE9706321 (1997-02-18)
발명자 / 주소
  • Kuntzsch Claus,DEX
  • Mayer Frank,DEX
출원인 / 주소
  • EE-Signals GmbH & Co. KG, DEX
대리인 / 주소
    Scully, Scott Murphy & Presser
인용정보 피인용 횟수 : 7  인용 특허 : 14

초록

There is proposed a process for the monitoring of integrated circuits (ASICs 21, 22) in safety-critical applications, in which the ASICs (21, 22) with identical constructions are connected in parallel and simultaneously to all inputs. The ASICs (21, 22) operate closely synchronized with each other a

대표청구항

[ What is claimed is:] [1.] A process for monitoring of application specific integrated circuits (ASICs), especially of application specific integrated circuits in safety-critical applications, characterized in that at least two application specific integrated circuits (ASICs 21, 22) of identical co

이 특허에 인용된 특허 (14)

  1. DeWitt Michael R. (Mohnton PA) Gross ; Jr. George F. (Reading PA) Ramachandran R. (King of Prussia PA), Built-in self test for analog to digital converters.
  2. Mattern Klaus-Peter (Beilstein DEX), Circuit arrangement for a brake system with anti-lock system and/or traction control.
  3. Horvath Charles J. ; Leavitt William I. ; Tetreault Mark D. ; Green Gregory M. ; Churchill Peter C., Digital data processing methods and apparatus for fault detection and fault tolerance.
  4. Leavitt William I. ; Clemson Conrad R. ; Somers Jeffrey S. ; Chaves John M. ; Barbera David R. ; Clayton Shawn A., Digital data processing methods and apparatus for fault isolation.
  5. Hay Rick H. (Cave Creek AZ) Smith Clarence S. (Glendale AZ) Girts Robert D. (Mesa AZ) Yount Larry J. (Scottsdale AZ), Fail-operational fault tolerant flight critical computer architecture and monitoring method.
  6. Bissett Thomas Dale ; Fiorentino Richard D. ; Glorioso Robert M. ; McCauley Diane T. ; McCollum James D. ; Tremblay Glenn A. ; Troiani Mario, Fault resilient/fault tolerant computing.
  7. Maccianti Tiziano (Pregnana Milanese ITX) Raimondi Luciano (Milan ITX), Fault tolerant computer architecture.
  8. Cutts ; Jr. Richard W. (Georgetown TX) Banton Randall G. (Austin TX) Jewett Douglas E. (Austin TX), Fault-tolerant computer system having switchable I/O bus interface modules.
  9. Cutts ; Jr. Richard W. (Georgetown TX) Banton Randall G. (Austin TX) Jewett Douglas E. (Austin TX), Fault-tolerant computer system with redesignation of peripheral processor.
  10. Glackemeyer Richard E. (Harvard MA) Petty Robert C. (Princeton MA) Page Calvin F. (Brookline NH), Method and apparatus for isolating faults in a digital logic circuit.
  11. Hall, Christopher M., Methods and circuits for synchronizing signals in a modular redundant fault tolerant computer system.
  12. Oyamada Hideo (Kanagawa JPX) Shiga Minoru (Kanagawa JPX), Multi-processor system with fault detection.
  13. Smith Steven E. (Manhattan Beach CA) Murphy Kenneth J. (Canoga Park CA), Multiple-redundant fault detection system and related method for its use.
  14. Chau Savio N. (Hacienda Heights CA) Rennels David A. (La Canada CA), Self-checking on-line testable static ram.

이 특허를 인용한 특허 (7)

  1. Peleska, Pavel; Schnabel, Dirk, Apparatus for indentifying defects in electronic assemblies.
  2. Klauck, Wolfgang; Klein, Johann; Duhm, Lydia; Maier, Wolfgang, Cyanacrylate adhesive with ester and polymer additives.
  3. Pistoulet,Pierre, Device for protection against error injection into a synchronous flip-flop of an elementary logic module.
  4. Pistoulet, Pierre, Device for protection against error injection into an asynchronous logic block of an elementary logic module.
  5. Driscoll, Kevin R.; Hall, Brendan; Paulitsch, Michael, Hardware efficient monitoring of input/output signals.
  6. Landwehr, Heinz-Carsten; Oster, Viktor; Esch, Rainer, Method and apparatus for bus coupling of safety-relevant processes.
  7. Esch, Rainer; Horn, Steffen; Kalhoff, Johannes, Method and device adapted for performing single-channel bus coupling of a safety-critical process.
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