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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0030555 (1998-02-25) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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대리인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 208 인용 특허 : 16 |
A method and apparatus for improving the adhesion of a copper layer to an underlying layer on a wafer. The layer of copper is formed over a layer of material on a wafer and the copper layer impacted with ions to improve its adhesion to the underlying layer.
[ What is claimed is:] [1.] A method of processing a substrate comprising the steps of:(a) chemical vapor depositing a seed layer consisting essentially of copper upon said substrate; and(b) after said step (a), treating the copper seed layer through ion bombardment to cause the copper seed layer to
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