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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0247143 (1999-02-09) |
발명자 / 주소 |
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대리인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 22 인용 특허 : 17 |
A system to diagnose potential malfunctions in semiconductor manufacturing equipment components, this system includes a transducer to monitor component vibration signatures of the semiconductor manufacturing equipment components. This transducer provides an output signal representative of the compon
[What is claimed is:] [1.]a transducer to monitor present component vibration signatures of the semiconductor manufacturing equipment components and provide at least one output signal representative of present component vibration;an electrical circuit to read said at least one output signal generate
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