[특허]Wafer having top and bottom emitting vertical-cavity lasers

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[미국특허] Wafer having top and bottom emitting vertical-cavity lasers 원문보기

IPC분류정보
국가/구분	United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)	H01L-033/00
출원번호	US-0105573 (1998-06-25)
발명자 / 주소	Chirovsky Leo Maria Cunningham John Edward Goossen Keith Wayne Hui Sanghee Park Tseng Betty Jyue
출원인 / 주소	Lucent Technologies INC
대리인 / 주소	Caccuro
인용정보	피인용 횟수 : 13 인용 특허 : 3

초록 ▼

A technique is described for determining the performance of substrate-side emitting VCSELs formed on a wafer. The technique involves forming top-emitting VCSELs on the same wafer as bottom-emitting VCSELs and then testing the top-emitting VCSELs and using the results to determine the performance of

대표청구항 ▼

[ We claim:] [1.]1. A vertical-cavity surface emitting laser (VCSEL) wafer comprisinga plurality of substrate-side emitting VCSELs formed on the wafer, each including a top mirror having a metal reflecting cap formed thereon andat least one VCSEL constructed having a top mirror without metal reflect

이 특허에 인용된 특허 (3) 인용/피인용 타임라인 분석

Kuchta Daniel M., Method of semiconductor wafer testing.
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Morgan Robert A., Monolithic vertical cavity surface emitting laser and resonant cavity photodetector transceiver.
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Duboz Jean-Yves,FRX, Optoelectronic quantum well device having an optical resonant cavity and sustaining inter subband transitions.
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이 특허를 인용한 특허 (13) 인용/피인용 타임라인 분석

Johnson,Klein L., Hermetic chip-scale package for photonic devices.
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Hamaguchi, Tatsushi; Kuramoto, Masaru; Maeda, Yuki; Futagawa, Noriyuki, Light emitting element and method of manufacturing the same.
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Nurmikko, Arto V, Magneto-optoelectronic switch and sensor.
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Nurmikko,Arto V, Magneto-optoelectronic switch and sensor.
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Bowen, Terry Patrick; Ring, William Sean; Jiang, Ching-Long; Wilson, Randall B.; Soler, Mark S.; Breedis, John Baker; Anderson, Richard, Method for fabricating fiducials for passive alignment of opto-electronic devices.
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Csutak, Sebastian M.; Fowler, Burt W., Method for forming a semiconductor device for detecting light.
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Haji-Sheikh, Michael J.; Biard, James R.; Rabinovich, Simon; Guenter, James K.; Hawkins, Bobby M., Methods of conducting wafer level burn-in of electronic devices.
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Moy, Jean Pierre; Hugon, Xavier, Process for the collective fabrication of optical filtering components, and wafer of components.
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Haji-Sheikh, Michael J.; Biard, James R.; Guenter, James K.; Hawkins, Bobby M., Providing current control over wafer borne semiconductor devices using overlayer patterns.
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Haji-Sheikh, Michael J.; Biard, James R.; Guenter, James K.; Hawkins, Bobby M., Providing current control over wafer borne semiconductor devices using trenches.
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Haji-Sheikh, Michael J.; Biard, James R.; Guenter, James K.; Hawkins, Bobby M., Providing photonic control over wafer borne semiconductor devices.
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Haji Sheikh,Michael J.; Biard,James R.; Rabinovich,Simon; Guenter,James K.; Hawkins,Bobby M., Systems for wafer level burn-in of electronic devices.
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DeFelice, Richard Alden; Krishnamoorthy, Ashok V., Testing bottom-emitting VCSELs.
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IPC	Description
A	생활필수품
A62	인명구조; 소방(사다리 E06C)
A62B	인명구조용의 기구, 장치 또는 방법(특히 의료용에 사용되는 밸브 A61M 39/00; 특히 물에서 쓰이는 인명구조 장치 또는 방법 B63C 9/00; 잠수장비 B63C 11/00; 특히 항공기에 쓰는 것, 예. 낙하산, 투출좌석 B64D; 특히 광산에서 쓰이는 구조장치 E21F 11/00)
A62B-1/08	.. 윈치 또는 풀리에 제동기구가 있는 것

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구성항목	기본정보 상세정보 관리번호, 국가코드, 자료구분, 상태, 출원번호, 출원일자, 공개번호, 공개일자, 등록번호, 등록일자, 발명명칭(한글), 발명명칭(영문), 출원인(한글), 출원인(영문), 출원인코드, 대표IPC 관리번호, 국가코드, 자료구분, 상태, 출원번호, 출원일자, 공개번호, 공개일자, 공고번호, 공고일자, 등록번호, 등록일자, 발명명칭(한글), 발명명칭(영문), 출원인(한글), 출원인(영문), 출원인코드, 대표출원인, 출원인국적, 출원인주소, 발명자, 발명자E, 발명자코드, 발명자주소, 발명자 우편번호, 발명자국적, 대표IPC, IPC코드, 요약, 미국특허분류, 대리인주소, 대리인코드, 대리인(한글), 대리인(영문), 국제공개일자, 국제공개번호, 국제출원일자, 국제출원번호, 우선권, 우선권주장일, 우선권국가, 우선권출원번호, 원출원일자, 원출원번호, 지정국, Citing Patents, Cited Patents
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