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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0149599 (1998-09-08) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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대리인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 50 인용 특허 : 9 |
A method and apparatus for testing cooling units used in computers is presented. Testing of such cooling systems increases the reliability thereof, which in turn increases the reliability of the computers utilizing these cooling systems. The cooling system tester comprises a test frame which support
[ What is claimed is:] [1.]1. A tester for testing at least one cooling unit used with a computer, the cooling unit having an inlet and an outlet, comprising:a heating element for generating heat simulating a heat load of the computer;an evaporator disposed relative to said heating element for recei
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