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SRAM that can be clocked on either clock phase 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • G01R-031/28
  • G06F-001/04
출원번호 US-0127355 (1998-07-31)
발명자 / 주소
  • Aipperspach Anthony Gus
  • Day Leland Leslie
  • Ganfield Paul Allen
  • Johnson Charles Luther
출원인 / 주소
  • International Business Machines Corporation
대리인 / 주소
    Merchant & GouldNock
인용정보 피인용 횟수 : 6  인용 특허 : 14

초록

A functional unit, such as an SRAM, in a single clock chip design that contains a scan path can be clocked on either rising edge and falling edge of the clock. The functional unit includes a clock signal having two phases and a plurality of latches for scanning. Two scan latches are added outside th

대표청구항

[ What is claimed is:] [1.]1. An SRAM comprising:a. a clock signal having two phases;b. a scan/hold/enable controller which generates a first selection signal;c. an ABIST controller which generates a second selection signal;d. a plurality of first multiplexers responsive to the first selection signa

이 특허에 인용된 특허 (14)

  1. Matsumoto Takashi (Hadano JPX), Apparatus for testing an integrated circuit device.
  2. McMahon Maurice T. (Poughkeepsie NY), Circuit arrangement which permits the testing of each individual chip and interchip connection in a high density packagi.
  3. Lenoski Daniel E. (Mountain View CA) Garcia David J. (San Jose CA), Diagnostic apparatus for a data processing system.
  4. Motika Franco (Dutchess County NY) Forlenza Donato Orazio (Dutchess County NY) Anderson Adrian Charles (Dutchess County NY), Fast flush load of LSSD SRL chains.
  5. Naito Mitsugu (Kawasaki JPX), Flip-flop circuits for testing LSI gate arrays.
  6. Bassett Robert W. (Essex VT) Gillis Pamela S. (Jericho VT) Panner Jeannie T. H. (Underhill Center VT) Stout Douglas W. (Milton VT) Turner Mark E. (Colchester VT), Integrated circuit driver inhibit control test method.
  7. Kawai Masato (Tokyo JPX), LSI chip with scanning circuitry for generating reversals along activated logical paths.
  8. Corr James L. (Shelburne VT) Vincent Brian J. (Essex Junction VT), Logic performance verification and transition fault detection.
  9. Dekker Robertus W. C. (Eindhoven NLX) Thijssen Aloysius P. (Pijnacker NLX) Beenker Franciscus P. M. (Eindhoven NLX) Jansen Joris F. P. (Eindhoven NLX), Memory device containing a static ram memory that is adapted for executing a self-test, and integrated circuit containin.
  10. Qureshi Fazal Ur Rehman, Method and apparatus for testing analog and digital circuitry within a larger circuit.
  11. Sakashita Kazuhiro (Hyogo JPX) Hashizume Takeshi (Hyogo JPX), Scan test circuit and semiconductor integrated circuit device using the same.
  12. Bhavsar Dilip K. (Shrewsbury MA), Scannable flip-flop.
  13. Maeno Hideshi (Hyogo JPX), Test auxiliary circuit for testing semiconductor device.
  14. Okumoto Koji (Tokyo JPX) Matsuno Katsumi (Kanagawa JPX) Shiono Toru (Tokyo JPX) Senuma Toshitaka (Tokyo JPX) Fukuda Tokuya (Tokyo JPX) Takada Shinji (Kanagawa JPX), Testing method for electronic apparatus.

이 특허를 인용한 특허 (6)

  1. Pendurkar, Rahesh Y; Sanghani, Amit D., Reinstate apparatus and method to recreate data background for testing SRAM.
  2. Ohta, Mitsuyasu; Takeoka, Sadami, Semiconductor integrated circuit device, method of testing the same, database for design of the same and method of designing the same.
  3. Whetsel, Lee D., Tap clock and enable control of scan register, flip-flop, comparator.
  4. Whetsel, Lee D., Tap clock and enable control of scan register, flip-flop, compressor.
  5. Whetsel, Lee D., Tap flip flop, gate, and compare circuitry on rising SCK.
  6. Vahidsafa, Ali; Anandakumar, Sriram; Agarwal, Gaurav, Testing of SRAMS.
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