[특허]Method and arrangement for measuring temperature of a semiconductor component in an inactive state

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Method and arrangement for measuring temperature of a semiconductor component in an inactive state 원문보기

IPC분류정보
국가/구분	United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)	G01K-001/02 G01K-007/01
출원번호	US-0397506 (1999-09-17)
우선권정보	SE0003178 (1998-09-18)
발명자 / 주소	Molander Mats Erik,SEX
출원인 / 주소	Telefonaktiebolaget LM Ericsson (publ), SEX
대리인 / 주소	Burns, Doane, Swecker & Mathis, L.L.P.
인용정보	피인용 횟수 : 4 인용 특허 : 9

초록

The present invention relates to a method and to arrangements for measuring temperature in an intermittently operating semiconductor. The method comprises the following steps:

대표청구항 ▼

[ What is claimed is:] [1.]1. A method of measuring temperature in an intermittently operating semiconductor component, comprising the steps of:connecting the semiconductor component to a measuring circuit;measuring a temperature dependent electrical quantity of the semiconductor component; andconverting the value of the measured quantity to a temperature value that corresponds to the temperature of the semiconductor component, andconnecting the measuring circuit to the semiconductor component solely when said semiconductor component is in an inactive period.

이 특허에 인용된 특허 (9)

Zommer Nathan (Los Altos CA), Insulated gate transistor devices with temperature and current sensor.
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Banura George A. (Ridgecrest CA), Linear power regulator with current limiting and thermal shutdown and recycle.
상세보기
Hauswirth Christian (Rfenach CHX) Hochstuhl Gerhard (Waldshut-Tiengen DEX) Hofstetter Bruno (Brugg CHX) Keller Markus (Luterbach CHX), Method and circuit arrangement for measuring the depletion layer temperature of a GTO thyristor.
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Miyazaki Shinichi (Tokyo JPX), Output level control circuit for use in RF transmitter.
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Shinoda Ryuichi (Tokyo JPX) Honda Jun (Tokyo JPX) Miyata Kunihiro (Tokyo JPX), Protective apparatus for power transistor.
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Barker ; III Charles R. (Harvard MA) White Robert V. (Hudson MA) Bartoszek John T. (Bolton MA), Semiconductor junction temperature emulator.
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Kunst David J., Solid state temperature measurement.
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Takahashi Mitsuasa,JPX, Temperature detection method and circuit using MOSFET.
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Blanchard Richard A. (Los Altos CA) Cooper David (Saratoga CA), Vertical DMOS power transistor with an integral operating condition sensor.
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이 특허를 인용한 특허 (4)

Aslan,Mehmet; Branch,John W., Beta variation cancellation in temperature sensors.
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Nada, Mitsuhiro, Method of estimating temperature and device for the effecting same.
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Arroyo, Jaime Mimila, Method of using a bipolar transistor as a self-calibrated thermometer and/or temperature sensor.
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Franch, Robert L.; Jenkins, Keith A., On chip temperature measuring and monitoring method.
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관련 콘텐츠

특허 원문 보기

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IPC 상위 출원인

특허정보
IPC	Description
A	생활필수품
A62	인명구조; 소방(사다리 E06C)
A62B	인명구조용의 기구, 장치 또는 방법(특히 의료용에 사용되는 밸브 A61M 39/00; 특히 물에서 쓰이는 인명구조 장치 또는 방법 B63C 9/00; 잠수장비 B63C 11/00; 특히 항공기에 쓰는 것, 예. 낙하산, 투출좌석 B64D; 특히 광산에서 쓰이는 구조장치 E21F 11/00)
A62B-1/08	.. 윈치 또는 풀리에 제동기구가 있는 것

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