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Method for manufacturing a semiconductor device 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • H01L-021/00
출원번호 US-0098470 (1998-06-17)
우선권정보 JPX, 19970618, 9-161250
발명자 / 주소
  • Matsuda Tetsuo,JPX
  • Hayasaka Nobuo,JPX
출원인 / 주소
  • Kabushiki Kaisha Toshiba, JPX
대리인 / 주소
    Finnegan, Henderson, Farabow, Garrett, & Dunner, L.L.P.
인용정보 피인용 횟수 : 20  인용 특허 : 6

초록

A method of manufacturing a semiconductor device, which comprises the steps of subjecting a solid material to a first treatment consisting of a thermal treatment and/or a chemical treatment thereby to obtain a treated solid material having desired properties, and adhering the treated solid material

대표청구항

[ What is claimed is:] [11.]11. A method of manufacturing a semiconductor device, comprising:subjecting a solid material to first treatment conditions to obtain a treated solid material, said first treatment conditions being chosen from a first thermal treatment at a first temperature and a first ch

이 특허에 인용된 특허 (6)

  1. Beyer Klaus D. (Poughkeepsie NY) Hsieh Chang-Ming (Fishkill NY) Hsu Louis L. (Fishkill NY) Yuan Tsorng-Dih (Hopewell Junction NY), Bonded wafer structure having a buried insulation layer.
  2. Doyle Brian ; Yu Quat T. ; Yau Leopoldo D., Capping layer in interconnect system and method for bonding the capping layer onto the interconnect system.
  3. Katou Hirotaka,JPX ; Furukawa Hiroshi,JPX ; Fujimoto Kazuaki,JPX, Method for fabricating a bonded SOI wafer.
  4. Grupen-Shemansky Melissa E. (Phoenix AZ) Cambou Bertrand F. (Mesa AZ), Method of bonding silicon and III-V semiconductor materials.
  5. McCarthy Anthony M. (Menlo Park CA), Method of forming crystalline silicon devices on glass.
  6. Haisma Jan (Eindhoven NLX) Michielsen Theodorus M. (Eindhoven NLX) Pals Jan A. (Eindhoven NLX), Method of manufacturing semiconductor devices.

이 특허를 인용한 특허 (20)

  1. Ahn, Kie Y.; Forbes, Leonard, Field emission display having porous silicon dioxide layer.
  2. Ahn, Kie Y.; Forbes, Leonard, Field emission display having reduced power requirements and method.
  3. Ahn,Kie Y.; Forbes,Leonard, Field emission display having reduced power requirements and method.
  4. Liang,Mong Song; Lu,Yung Cheng; Chang,Huilin, Integrated treatment method for obtaining robust low dielectric constant materials.
  5. Ahn, Kie Y.; Forbes, Leonard, Manufacturing method of a field emission display having porous silicon dioxide insulating layer.
  6. Yang, Tahorng, Method for forming low dielectric constant insulating layer with foamed structure.
  7. Maruyama,Junya; Ohno,Yumiko; Takayama,Toru; Goto,Yuugo; Yamazaki,Shunpei, Method for manufacturing semiconductor device.
  8. Matsushita, Daisuke; Nishikawa, Yukie; Satake, Hideki; Fukushima, Noburu, Method of manufacturing a field effect transistor comprising an insulating film including metal oxide having crystallinity and different in a lattice distance from semiconductor substrate.
  9. Maruyama,Junya; Ohno,Yumiko; Takayama,Toru; Goto,Yuugo; Yamazaki,Shunpei, Method of separating a release layer from a substrate comprising hydrogen diffusion.
  10. Huggins, Harold A., Methods of fabricating magnetoresistive memory devices.
  11. Takayama, Toru; Maruyama, Junya; Goto, Yuugo; Ohno, Yumiko; Tsurume, Takuya; Kuwabara, Hideaki, Peeling method.
  12. Takayama,Toru; Maruyama,Junya; Goto,Yuugo; Ohno,Yumiko; Tsurume,Takuya; Kuwabara,Hideaki, Peeling method.
  13. Takayama,Toru; Maruyama,Junya; Goto,Yuugo; Ohno,Yumiko; Tsurume,Takuya; Kuwabara,Hideaki, Peeling method.
  14. Maruyama, Junya; Takayama, Toru; Ohno, Yumiko; Yamazaki, Shunpei, Semiconductor device and manufacturing method thereof, delamination method, and transferring method.
  15. Maruyama, Junya; Takayama, Toru; Ohno, Yumiko; Yamazaki, Shunpei, Semiconductor device and manufacturing method thereof, delamination method, and transferring method.
  16. Maruyama, Junya; Takayama, Toru; Ohno, Yumiko; Yamazaki, Shunpei, Semiconductor device and manufacturing method thereof, delamination method, and transferring method.
  17. Maruyama, Junya; Takayama, Toru; Ohno, Yumiko; Yamazaki, Shunpei, Semiconductor device and manufacturing method thereof, delamination method, and transferring method.
  18. Maruyama, Junya; Takayama, Toru; Ohno, Yumiko; Yamazaki, Shunpei, Semiconductor device and manufacturing method thereof, delamination method, and transferring method.
  19. Maruyama, Junya; Takayama, Toru; Ohno, Yumiko; Yamazaki, Shunpei, Semiconductor device and manufacturing method thereof, delamination method, and transferring method.
  20. Morisaki, Hiroshi; Nozaki, Shinji, Semiconductor device with porous interlayer insulating film.
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