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Detection of variable manufacturing tolerance packages utilizing x-rays 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • G01N-023/04
출원번호 US-0825767 (2001-04-04)
발명자 / 주소
  • Wayne I. Knigge
  • Brian A. Piotrowski
출원인 / 주소
  • General Mills, Inc.
대리인 / 주소
    John A. O'Toole
인용정보 피인용 횟수 : 8  인용 특허 : 9

초록

Detection of components (22-24) missing from sealed packages (16) is accomplished by combining a multiplicity of electrical outputs representing the mass in volumes of the package (16) and comparing the combined value with a standard value for packages (16) including all components (22-24). In the p

대표청구항

1. Method for detecting if a package is within a range of manufacturing tolerances comprising: generating a multiplicity of electrical outputs representing the mass in volumes of the package; combining the multiplicity of electrical outputs to arrive at a combined value; identifying a standard value

이 특허에 인용된 특허 (9)

  1. Ellinger Hunter, Apparatus and method for comparison.
  2. Takahashi Yoshifumi,JPX ; Shioiri Ken,JPX, Apparatus for detecting foreign matter with high selectivity and high sensitivity by image processing.
  3. Yoshida Osami (Tokyo JPX) Tsuji Hidekazu (Amagasaki JPX) Nomura Yoshitada (Tokyo JPX), Container inspection system.
  4. Knigge Wayne I, Detection of variable positionable missing components utilizing x-rays.
  5. Kakimoto Kenichi (Higashimurayama JPX) Kobayashi Toshitaka (Higashimurayama JPX) Nagata Masanori (Tokyo JPX) Imano Shigeki (Tokyo JPX) Honma Hideaki (Tokyo JPX) Nishiyama Hideki (Tokyo JPX), Method of and apparatus for examining objects in containers in non-destructive manner.
  6. Fujii Masashi (Tokyo JPX) Masanobu Kazunori (Saitama JPX) Yamamoto Teruo (Tokyo JPX), Scattered radiation imaging apparatus.
  7. Kotowski Andreas F. (Covina CA), X-Ray line scan system for use in baggage inspection.
  8. Cambier James L. (Rome NY) Pasiak David (Waterville NY), X-ray generating apparatus and associated method.
  9. Donges Gerhard (Heidenrod-Kemel DEX) Koch Cornelius (Wiesbaden DEX), X-ray scanner & detector signal processing system.

이 특허를 인용한 특허 (8)

  1. Ainsworth,Teresa; Bro,Yuriy; Cash,Frederick; Dickinson,Gary; Eggerth,Scott; Erb,Tom; Ferguson,Jeffrey; Gessner,David; Herbes,Bruce; Johnson,Kevin; Moskalenko,Sergey; Lockman,Lorna; Schmidt,Doug, Contaminant detector for food inspection.
  2. Shih, Ang; Rosner, S. Jeffrey, High-speed x-ray inspection apparatus and method.
  3. Gaug, Mark, Information routing in a distributed environment.
  4. Bender,Tonya K.; Binning,Ronald L.; Stradley,Eugene; Younkin,Shawn, Material handling system and method of use.
  5. Zanovitch,Joseph P., Passenger and item tracking with system alerts.
  6. Tippey, Darold Dean; Bush, Perry Allen; Clare, Timothy Patrick, Process for controlling the quality of an absorbent article including a wetness sensing system.
  7. Sawada, Ryoichi, Radiation inspection apparatus and radiation inspection method.
  8. Zanovitch,Joseph; Douglas,Susan; Heaton,Michael; Bender,Tonya, Threat scanning machine management system.
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