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Method for recycling a polishing pad conditioning disk 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • B24B-001/00
출원번호 US-0634494 (2000-08-08)
발명자 / 주소
  • Yu-Liang Lin TW
출원인 / 주소
  • Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd TW
대리인 / 주소
    Tung & Associates
인용정보 피인용 횟수 : 10  인용 특허 : 7

초록

A method for cleaning or recycling a polishing pad conditioning disk used in a chemical mechanical polishing apparatus is disclosed. In the method, a conditioning disk that has a top surface formed of diamond particles and covered by a layer of polishing debris such as silicon oxide is first provide

대표청구항

1. A method for cleaning a polishing pad conditioning disk comprising the steps of:providing a conditioning disk having a top surface covered with polishing debris; directing a water jet of at least 1,500 psi pressure toward said top surface for at least 5 min. to substantially remove said polishing

이 특허에 인용된 특허 (7)

  1. Lofaro Michael F., Apparatus for and method of conditioning chemical mechanical polishing pad during workpiece polishing cycle.
  2. Walker Michael A. (Boise ID) Robinson Karl M. (Boise ID), Directional spray pad scrubber.
  3. Walker Michael A. ; Robinson Karl M., Directional spray pad scrubber.
  4. Brunelli Thad Lee, Method and apparatus for controlling a temperature of a polishing pad used in planarizing substrates.
  5. Shimokawa Kimiaki,JPX, Method and apparatus for polishing wafer.
  6. Mains Jr. Gilbert L. (2642 Joelle Dr. Toledo OH 43617), Method for material removal.
  7. Pinson Jay D. ; Shah Nitin ; Groechel David W. ; Waidl Joe, Substrate polishing with reduced contamination.

이 특허를 인용한 특허 (10)

  1. Hsu, Feng-Chih; Hu, Tien-Chen, Apparatus and method for cleaning the polishing pad of a linear polisher.
  2. Crevasse, Annette Margaret; Easter, William Graham; Maze, III, John Albert; Miceli, Frank, Chemical mechanical polisher including a pad conditioner and a method of manufacturing an integrated circuit using the chemical mechanical polisher.
  3. Park, Young-rae; Kim, Ho-young; Hwang, Hong-kyu, Chemical mechanical polishing apparatus having a cleaner for cleaning a conditioning disc and method of conditioning a polishing pad of the apparatus.
  4. Chen, Chih-Kun, In-line oscillating device.
  5. Xu, Kun; Zhang, Jimin; Wang, James C.; Osterheld, Thomas H.; Ma, Yutao; Zuniga, Steven M.; Yi, Jin, Pad conditioner.
  6. Doan, Trung; Balagani, Venkata R.; Ngan, Kenny King-Tai, Polishing pad conditioner and methods of manufacture and recycling.
  7. Petroski,Angela; Cooper,Richard D.; Fathauer,Paul; Yesnik,Marc Andrew, Polishing pad for use in chemical-mechanical planarization of semiconductor wafers and method of making same.
  8. Petroski, Angela; Cooper, Richard D.; Fathauer, Paul; Yesnik, Marc Andrew, Polishing pad for use in chemical?mechanical planarization of semiconductor wafers and method of making same.
  9. Lafon, Jean-Marc; Delmonaco, Silvio; Petitdidier, Sebastien, System and method for cleaning a conditioning device.
  10. Kordic, Srdjan; Petitdidier, Sebastien; Farkas, Janos; Del Monaco, Silvio, System and method for removing particles from a polishing pad.
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