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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0133889 (1998-08-13) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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대리인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 22 인용 특허 : 16 |
An apparatus and method are provided for cleaning (removing) contaminating particles and/or films from substrate surfaces such as semiconductor wafers during the fabrication process for making electronic components. The method and apparatus use a liquified gas contained in a distributor which has be
1. A method for removing contaminating particles from a contaminating particle containing substrate surface comprising the steps of:providing a liquefied gas in a distributor having an outlet nozzle; imparting megasonic energy to the liquefied gas in the distributor thereby energizing the liquefied
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