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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0097392 (1998-06-16) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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대리인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 15 인용 특허 : 3 |
A process for the detection of flaws in an article comprising infra-red scanning of the article as its temperature changes and comparing the infra-red scans for regularity of cooling/heating pattern. Where the article is irregular, such as in marginal areas, thermodynamic modelling is performed to e
1. A process for the detection of flaws in an article using Far infra-red scanning of its surface comprising changing the temperature of the surface of an article over a plurality of temperatures and making an infra-red scan at each of said temperatures during changing the temperature, the infra-red
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