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Defect detection in articles using computer modelled dissipation correction differential time delayed far IR scanning 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • G01N-025/72
출원번호 US-0097392 (1998-06-16)
발명자 / 주소
  • Daniel J. Kenway CA
출원인 / 주소
  • OSB Scan Inc. CA
대리인 / 주소
    Ridout & Maybee
인용정보 피인용 횟수 : 15  인용 특허 : 3

초록

A process for the detection of flaws in an article comprising infra-red scanning of the article as its temperature changes and comparing the infra-red scans for regularity of cooling/heating pattern. Where the article is irregular, such as in marginal areas, thermodynamic modelling is performed to e

대표청구항

1. A process for the detection of flaws in an article using Far infra-red scanning of its surface comprising changing the temperature of the surface of an article over a plurality of temperatures and making an infra-red scan at each of said temperatures during changing the temperature, the infra-red

이 특허에 인용된 특허 (3)

  1. Leavens William M. (Seattle WA) Zentner Ronald C. (Bellevue WA) Stonecipher Charles H. (Boston MA), Method and apparatus for nondestructive analysis of subsurface features of material.
  2. Shepard Steven M. (23656 Hunter\s La. Southfield MI 48034), Method of interpreting thermographic data for non-destructive evaluation.
  3. Watkins Michael, Process control by transient thermography.

이 특허를 인용한 특허 (15)

  1. Cochran, Don W.; Cech, Steven D., Apparatus and method for providing snapshot action thermal infrared imaging within automated process control article inspection applications.
  2. Ringermacher, Harry Israel; Howard, Donald Robert; Knight, Bryon Edward; Patterson, William George; Bantel, Thomas Edward, Characterization of flaws in composites identified by thermography.
  3. Kollgaard, Jeffrey R.; Thompson, Jeffrey G.; Uyehara, Clyde T., Infrared NDI for detecting shallow irregularities.
  4. Campbell, Levi A.; Domitrovits, Michael J.; Ellsworth, Jr., Michael J.; Singh, Prabjit, Method and apparatus for defect detection in a cold plate.
  5. Sloat, Jeffrey T.; Abbott, Paul; Middleton, Scott W.; Schneider, Lee M.; Resurreccion, Jr., Fermin P., Method and apparatus for identifying defects in susceptors of microwave food containers.
  6. Zombo, Paul J.; Lemieux, Dennis; Diatzikis, Evangelos, Method and apparatus for measuring on-line failure of turbine thermal barrier coatings.
  7. Lewis, Oscar O.; Schreiner, Thomas C.; Felix, Miguel A., Methods and system for ultrasonic thermographic non-destructive examination for enhanced defect determination.
  8. Koshti, Ajay M., Methods and systems for characterization of an anomaly using infrared flash thermography.
  9. Koshti, Ajay M., Methods and systems for measurement and estimation of normalized contrast in infrared thermography.
  10. Koshti, Ajay M., Methods and systems for measurement and estimation of normalized contrast in infrared thermography.
  11. Watkins, Michael L.; Fleischhauer, Grier S.; Lilly, Jr., A. Clifton, Process control by transient thermography.
  12. Shepard, Steven M., System for generating thermographic images using thermographic signal reconstruction.
  13. Alloo, Richard; Saito, Kozo; Gharaibeh, Belal; Chuah, Keng; Akafuah, Nelson; Salaimeh, Ahmad, Systems and methods for detecting defects in coatings utilizing color-based thermal mismatch.
  14. Saito,Kozo; Hassan Ali,Mohammed I.; Numasato,Akira; Omar,Mohammed A.; Sakakibara,Masahito; Suzuki,Toshikazu; Tanigawa,Yasuo, Systems and methods for inspecting coatings.
  15. Saito,Kozo; Hassan Ali,Mohammed I.; Numasato,Akira; Omar,Mohammed A.; Sakakibara,Masahito; Suzuki,Toshikazu; Tanigawa,Yasuo, Systems and methods for inspecting coatings, surfaces and interfaces.
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