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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0408753 (1999-09-30) |
우선권정보 | JP-0294567 (1998-09-30) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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대리인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 0 인용 특허 : 3 |
A probe for an electrooptic sampling oscilloscope in which an electric field generated by a measured field is coupled with an electrooptic crystal. A beam is incident on this electrooptic crystal, and by the polarization state of the incident beam, the form of the measured signal is measured. The el
1. An electronic probe comprising:a probe body having a base terminal and an end terminal wherein a light path is formed between the base terminal and the end terminal; a laser diode disposed at an end of the light path on a side of the base terminal; an electrooptic element disposed at a second end
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