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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0531475 (2000-03-20) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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대리인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 9 인용 특허 : 17 |
A system and corresponding method for bulge testing films (e.g. thin films, coatings, layers, etc.) is provided, as well as membrane structures for use in bulge testing and improved methods of manufacturing same so that resulting membrane structures have substantially identical known geometric and r
1. A membrane structure for use in bulge testing of thin films, the membrane structure comprising:a first member having defined therein an array of freestanding thin film membrane portions, each of said thin film membrane portions being positioned over a corresponding cavity so that when a cavity is
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