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System and method for performing bulge testing of films, coatings and/or layers 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • G01N-019/04
  • G01N-029/00
  • G01N-003/00
  • G01D-001/02
출원번호 US-0531475 (2000-03-20)
발명자 / 주소
  • Stuart B. Brown
  • Christopher L. Muhlstein
  • Kevin R. Lynch
  • Richard Mlcak
  • Paulo Jorge Furtado Correia
출원인 / 주소
  • Exponent Inc.
대리인 / 주소
    Liniak, Berenato, Longacre & White
인용정보 피인용 횟수 : 9  인용 특허 : 17

초록

A system and corresponding method for bulge testing films (e.g. thin films, coatings, layers, etc.) is provided, as well as membrane structures for use in bulge testing and improved methods of manufacturing same so that resulting membrane structures have substantially identical known geometric and r

대표청구항

1. A membrane structure for use in bulge testing of thin films, the membrane structure comprising:a first member having defined therein an array of freestanding thin film membrane portions, each of said thin film membrane portions being positioned over a corresponding cavity so that when a cavity is

이 특허에 인용된 특허 (17)

  1. Ingle ; Jr. Harold R. (2665 Jamerson Rd. ; NE. Marietta GA 30066), Apparatus for detecting bonding defects in laminates.
  2. Kenny James (Baldwinsville NY), Apparatus for rupture testing metal films.
  3. Knobel ; Max, Attachment for air gauging apparatus.
  4. Hancock Stephen H. (Tequesta FL), Device for measuring change in profile height of articles.
  5. Lin Li (Wallingford PA) Johnson Melvin H. (Chadds Ford PA), Film testing.
  6. Pace Sal A. (Trenton NJ) Salama Simon S. (Newton PA), Laser induced acoustic generation for sonic modulus.
  7. Yamamoto Yasunori (Nagaokakyo JPX) Nishimura Tsukasa (Kyoto JPX), Measurement of interfacial strength of a composite material.
  8. Engel Jean (Bissen LUX), Method and apparatus for sidewall bulge and valley detection.
  9. Allen Mark G. (Boston MA) Senturia Stephen D. (Boston MA), Method and apparatus for the quantitative measurement of adhesion of thin films.
  10. Bazin Roland M. (Vitry S/Seine FRX) Obadia Grard (Montrouge FRX) Marcotte Louis (Chevilly La Rue - Rungis FRX) Scot Jean (Paris FRX), Method and device for measuring the elasticity of a superficial layer, in particular of the skin.
  11. Scheucher Peter (Kumberg ATX) Stummer Giselher (Kumberg ATX), Method and device for the detection and removal of bulges in continuous strips of material.
  12. Tonazzi Juan C. Lopez ; Kucharczyk ; Jr. Joseph E. ; Agrawal Anoop, Method for filling the cavities of cells with a chromogenic fluid.
  13. Wood Milton D. (Portola Valley CA), Method of determining change in subsurface structure due to application of fluid pressure to the earth.
  14. Sidey Roger C. H. (London GB2), Non-contacting gauge for surfaces.
  15. Ingle ; Jr. Harold R. (2665 Jamerson Road ; NE. Marietta GA 30066), Non-destructive testing of bonding laminates.
  16. Rogers John A. (Castle Rock CO) Nelson Keith A. (Newton MA), Optical measurements of stress in thin film materials.
  17. Seiler ; Jr. James F. N. (Frederick MD), Pneumatic adhesion tester.

이 특허를 인용한 특허 (9)

  1. Mansky, Paul; Tiede, Richard; Havadtoy, Steve, Apparatus for testing compositions in contact with a porous medium.
  2. Horning, Robert D., Bonding system having stress control.
  3. Feng, William W; Hallquist, John O., Determination of elastomer material properties for the Mullins effect using a bi-axial test device.
  4. Feng,William W; Hallquist,John O., Determination of elastomer material properties for the Mullins effect using a bi-axial test device.
  5. Shuaib, Nasr A.; Khraisheh, Marwan K., Method and apparatus for characterizing microscale formability of thin sheet materials.
  6. Fischer, Helmut, Method and apparatus for measurement of the thickness of thin layers by means of measurement probe.
  7. Sakai, Kazufumi; Nonaka, Kazuhiro; Yamaguchi, Shinsuke, Method for inspecting defects, inspected wafer or semiconductor device manufactured using the same, method for quality control of wafers or semiconductor devices and defect inspecting apparatus.
  8. Piatt, Michael J.; Hix, Kenneth E.; Gelbart, Daniel, Micro-structured drying for inkjet printers.
  9. Kent, Kevin B.; Burroughs, Timothy D., System, work station and method for testing a product and generating a statistical model that predicts the processibility of making like products.
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