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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0275288 (1999-03-24) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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대리인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 19 인용 특허 : 17 |
An RTD having a thin film HfN resistor formed on a substrate for temperature detection in accordance with the resistance of the HfN resistor. The RTD is a two lead device having high accuracy and a wide temperature range from 20 to 1400 degrees Kelvin. The substrate has bonding pads or contact strip
1. A high temperature resistance temperature device comprising:a substrate; a resistor made substantially of hafnium nitride (HfN) and formed on said substrate, said resistor having a measurable resistance over a temperature range of from about 30 to about 1400 degrees Kelvin; first and second leads
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