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[미국특허] IC receiving tray storage device and mounting apparatus for the same 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • B65G-059/00
출원번호 US-0427036 (1999-10-26)
우선권정보 JP-0254362 (1994-09-22); JP-0070823 (1995-03-03)
발명자 / 주소
  • Yoshito Kobayashi JP
  • Hiroto Nakamura JP
출원인 / 주소
  • Advantest Corporation JP
대리인 / 주소
    Staas & Halsey LLP
인용정보 피인용 횟수 : 42  인용 특허 : 19

초록 ▼

An IC receiving tray storage device is provided which is capable of securedly identifying the category of the tested ICs sorted for each category and received in the corresponding tray in the unloader section after end of test. Mounted to the tray storage is a casing comprising a generally rectangul

대표청구항 ▼

1. A tray storage device mounting apparatus adapted to be used in an IC transporting and handling system for transporting semiconductor devices from a loader section to a test section to test them through said test section and transporting the tested semiconductor devices from said test section to a

이 특허에 인용된 특허 (19) 인용/피인용 타임라인 분석

  1. Klug Mark W. (San Diego CA) Toth Thomas E. (San Diego CA) Guenther Theodore C. (San Diego CA) Twite Martin (Coronado CA) Tsurishima Kazuyuki (Saitama JPX) Tani Mitsuaki (Saitama JPX) Baba Minoru (Sai, Apparatus for automatic handling.
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  2. Poinelli Renato (Casate Novo ITX), Automatic handling of different magazines by standardized pick-ups and identification codes.
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  3. Mojden Wallace W. (Hinsdale IL) Mojden Andrew (Hinsdale IL) Darr Robert E. (Chicago IL), Automatic tray loading, unloading and storage system.
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  4. Doodson Peter J. (Eindhoven NLX), Cassette with a magnetic tape.
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  5. Kubota Toshihiro (Honjo JPX), Gravitational IC package transfer mechanism.
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  6. Matsuoka Noriyuki,JPX, IC carrier having a movable and stationary corner rulers.
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  7. Saeki Toshiro (Tokyo JPX), IC holder.
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  8. Shibata Junichirou (Urawa JPX), IC sorting and receiving apparatus and method.
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  9. Sato Hiroshi (Tokyo JPX) Kobayashi Yoshihito (Tokyo JPX), IC test equipment having input magazine replenisher.
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  10. Smith Nathan R. (Stillwater MN), IC tray handling apparatus and method.
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  11. Kikuchi Eiji (Musashi Murayama JPX) Suzuki Kouhei (Tachikawa JPX), Lead frame suction holding device.
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  12. Lapeus David J. (Garfield Heights OH) Polaniec James P. (N. Ridgeville OH), Loading mechanism for probe tip tray.
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  13. Bordon Emil L. (Denver CO), Method and apparatus for dispensing pallets.
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  14. Akagawa Minoru (Fremont CA), Modular loading-unloading system for integrated circuits or the like.
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  15. Grabbe Dimitry G. (Middletown PA) Korsunsky Iosif (Harrisburg PA), Protective carrier and securing means therefor.
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  16. Johnson Douglas M. (Waconia MN), Shipping container for semiconductor substrate wafers.
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  17. O\Connor R. Bruce (San Diego CA) Toth Thomas E. (El Cajon CA) Ross James A. (Poway CA), Test station.
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  18. Rice Allyn B. (Fullerton CA) Johnson Ronald L. (Placentia CA) Peterman Milton J. (Los Angeles CA), Transparent, electrostatic protective container with readily accessible identification means.
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  19. Murphy Robert H., Tray for integrated circuits.
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이 특허를 인용한 특허 (42) 인용/피인용 타임라인 분석

  1. Cojocneanu, Christian O.; Iosub, Doru G., Apparatus having a member to receive a tray(s) that holds semiconductor devices for testing.
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  2. Noble, Scott; Garcia, Edward; Polyakov, Evgeny; Truebenbach, Eric L.; Merrow, Brian S., Bulk feeding disk drives to disk drive testing systems.
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  3. Noble, Scott; Garcia, Edward; Polyakov, Evgeny; Truebenbach, Eric L.; Merrow, Brian S., Bulk feeding disk drives to disk drive testing systems.
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  4. Truebenbach, Eric L., Bulk transfer of storage devices using manual loading.
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  5. Truebenbach, Eric L., Bulk transfer of storage devices using manual loading.
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  6. Ji Hyun Hwang KR; Hyun Joo Hwang KR, Carrier handling apparatus for a module IC handler, and method therefor.
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  7. Rogel-Favila, Ben; Nalluri, Padmaja; Allison, Kirsten, Controlling automated testing of devices.
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  8. Rogel-Favila, Ben; Fishman, James, Customizable tester having testing modules for automated testing of devices.
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  9. Martino, Peter, Damping vibrations within storage device testing systems.
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  10. Merrow, Brian S.; Truebenbach, Eric L.; Smith, Marc Lesueur, Dependent temperature control within disk drive testing systems.
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  11. Merrow, Brian S.; Garcia, Edward; Polyakov, Evgeny, Disk drive transport, clamping and testing.
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  12. Merrow, Brian S.; Garcia, Edward; Polyakov, Evgeny, Disk drive transport, clamping and testing.
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  13. Merrow, Brian S.; Garcia, Edward; Polyakov, Evgeny, Disk drive transport, clamping and testing.
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  14. Arena, John Joseph; Suto, Anthony J., Electronic assembly test system.
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  15. Merrow, Brian S., Enclosed operating area for disk drive testing systems.
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  16. Merrow, Brian S., Enclosed operating area for storage device testing systems.
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  17. Campbell, Philip; Wrinn, Joseph F., Engaging test slots.
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  18. Merrow, Brian S.; Akers, Larry W., Heating storage devices in a testing system.
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  19. Rogel-Favila, Ben; Fishman, James, Multi-configurable testing module for automated testing of a device.
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  20. Merrow, Brian S.; Akers, Larry W., Storage device temperature sensing.
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  21. Merrow, Brian S.; Akers, Larry W., Storage device temperature sensing.
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  22. Merrow, Brian S., Storage device testing system cooling.
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  23. Merrow, Brian S., Storage device testing system cooling.
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  24. Merrow, Brian S.; Akers, Larry W., Storage device testing system with a conductive heating assembly.
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  25. Rogel-Favila, Ben; Fishman, James, Supporting automated testing of devices in a test floor system.
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  26. Merrow, Brian S., Temperature control within disk drive testing systems.
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  27. Merrow, Brian S., Temperature control within disk drive testing systems.
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  28. Merrow, Brian S., Temperature control within storage device testing systems.
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  29. Merrow, Brian S.; Krikorian, Nicholas C., Test slot cooling system for a storage device testing system.
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  30. Merrow, Brian S.; Krikorian, Nicholas C., Test slot cooling system for a storage device testing system.
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  31. Freij,Nicholas J.; Anderson,Ryan D.; Andrew,Gary; Doukali,Abderrahim, Test system for identification and sorting of integrated circuit devices.
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  32. Merrow, Brian S., Thermal control system for test slot of test rack for disk drive testing system with thermoelectric device and a cooling conduit.
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  33. Polyakov, Evgeny; Garcia, Edward; Truebenbach, Eric L.; Merrow, Brian S.; Whitaker, Brian J., Transferring disk drives within disk drive testing systems.
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  34. Polyakov, Evgeny; Garcia, Edward; Truebenbach, Eric L.; Merrow, Brian S.; Whitaker, Brian J., Transferring disk drives within disk drive testing systems.
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  35. Polyakov, Evgeny; Garcia, Edward; Truebenbach, Eric L.; Merrow, Brian S.; Whitaker, Brian J., Transferring storage devices within storage device testing systems.
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  36. Toscano, John; Polyakov, Evgeny; Garcia, Edward; Truebenbach, Eric L.; Merrow, Brian S.; Whitaker, Brian J., Transferring storage devices within storage device testing systems.
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  37. Toscano, John; Polyakov, Evgeny; Garcia, Edward; Truebenbach, Eric L.; Merrow, Brian S.; Whitaker, Brian J., Transferring storage devices within storage device testing systems.
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  38. Han, Jung Ug; Lim, Woo Young; Song, Ho Keun; Park, Young Geun, Tray transferring apparatus with gripper mechanism.
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  39. Rogel-Favila, Ben; Wolff, Roland; Kushnick, Eric; Fishman, James, Universal container for device under test.
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  40. Rogel-Favila, Ben; Wolff, Roland; Kushnick, Eric; Fishman, James, Universal test cell.
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  41. Rogel-Favila, Ben; Wolff, Roland; Kushnick, Eric; Fishman, James; Su, Mei-Mei, Universal test floor system.
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  42. Merrow, Brian S., Vibration isolation within disk drive testing systems.
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