$\require{mediawiki-texvc}$

연합인증

연합인증 가입 기관의 연구자들은 소속기관의 인증정보(ID와 암호)를 이용해 다른 대학, 연구기관, 서비스 공급자의 다양한 온라인 자원과 연구 데이터를 이용할 수 있습니다.

이는 여행자가 자국에서 발행 받은 여권으로 세계 각국을 자유롭게 여행할 수 있는 것과 같습니다.

연합인증으로 이용이 가능한 서비스는 NTIS, DataON, Edison, Kafe, Webinar 등이 있습니다.

한번의 인증절차만으로 연합인증 가입 서비스에 추가 로그인 없이 이용이 가능합니다.

다만, 연합인증을 위해서는 최초 1회만 인증 절차가 필요합니다. (회원이 아닐 경우 회원 가입이 필요합니다.)

연합인증 절차는 다음과 같습니다.

최초이용시에는
ScienceON에 로그인 → 연합인증 서비스 접속 → 로그인 (본인 확인 또는 회원가입) → 서비스 이용

그 이후에는
ScienceON 로그인 → 연합인증 서비스 접속 → 서비스 이용

연합인증을 활용하시면 KISTI가 제공하는 다양한 서비스를 편리하게 이용하실 수 있습니다.

Method and apparatus for high-pressure wafer processing and drying 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • F26B-005/04
출원번호 US-0924999 (2001-08-07)
발명자 / 주소
  • Eric J. Bergman
  • Ian Sharp
  • Craig P. Meuchel
  • H. Frederick Woods
출원인 / 주소
  • Semitool, Inc.
대리인 / 주소
    Lyon & Lyon LLP
인용정보 피인용 횟수 : 17  인용 특허 : 11

초록

A system for high-pressure drying of semiconductor wafers includes the insertion of a wafer into an open vessel, the immersion of the wafer in a liquid, pressure-sealing of the vessel, pressurization of the vessel with an inert gas, and then the controlled draining of the liquid using a moveable dra

대표청구항

1. A method for processing a wafer, comprising the steps of:placing the wafer into a vessel; delivering a liquid into the vessel, creating a liquid level; sealing the vessel so that it is pressure-tight; delivering a pressurized gas into the vessel; transmitting sonic energy to the wafer; draining t

이 특허에 인용된 특허 (11)

  1. Kim Jae Hyoung,KRX, Alcohol vapor dryer system.
  2. Ferrell Gary W. ; Elson Robert J. ; Schipper John F., Chemical drying and cleaning system.
  3. Kamikawa Yuji,JPX ; Shindo Naoki,JPX ; Kitahara Shigenori,JPX ; Yamasaka Miyako,JPX, Cleaning method and cleaning equipment.
  4. Gale Glenn W. ; Pierson Bernadette ; Syverson William, Forced plug processing for high aspect ratio structures.
  5. Denzler Ludwig,DEX ; Harms-Janssen Helmuth,DEX, Method and device for wet-processing substrates in a vessel.
  6. Fung Robert Pui Chi ; Musser David Paul ; Cho Jonathan Sanghun, Method for drying a substrate.
  7. Walter Alan E., Methods for treating objects.
  8. Konishi Toko,JPX ; Ban Cozy,JPX, Semiconductor workpiece cleaning method and apparatus.
  9. Kittle Paul A., Surface treatment of semiconductor substrates.
  10. Grebinski Thomas J. (Sunnyvale CA), Surface treatment to remove impurities in microrecesses.
  11. Koyanagi Tetsuo,JPX ; Yamaguchi Hiroshi,JPX ; Yokota Ichio,JPX ; Mitsumune Naofumi,JPX ; Tange Koichi,JPX, Treatment method of semiconductor wafers and the like and treatment system for the same.

이 특허를 인용한 특허 (17)

  1. Theriault, Martin; Boyce, Kristen; Rabia, Stephane, Apparatus and method for maintaining a dry atmosphere to prevent moisture absorption and allow demoisturization of electronic components.
  2. Ho, Henry; Pang, Lily L.; Nguyen, Anh N.; Lerner, Alexander N., Integrated bevel clean chamber.
  3. Lee, Kwang-Wook; Ko, Yong-Sun; Hwang, In-Seak, Method for drying a wafer and apparatus for performing the same.
  4. Matsunaga, Masahiro; Setoyama, Koichi; Kataoka, Yutaka; Matsui, Hiroaki; Matsunaga, Hiroshi; Fujiwara, Takeshi, Method for drying lumber, method of impregnating lumber with chemicals, and drying apparatus.
  5. McDermott,Wayne Thomas; Parris,Gene Everad; Roth,Dean Van John; Subawalla,Hoshang, Method for removal of flux and other residue in dense fluid systems.
  6. Kashkoush, Ismail; Novak, Richard; Nemeth, Dennis; Chen, Gim-Syang, Method of processing substrates using pressurized mist generation.
  7. Chen, Jia-Ren; Hsu, Li-De; Kuo, Chin-Chia; Tsai, Hann-Huei, Method to improve post wafer etch cleaning process.
  8. Uehara, Katsuhiro; Sakashita, Yoshihiko; Kanda, Takeshi; Nishimoto, Takeo, Pressure processing device.
  9. Kashkoush, Ismail; Novak, Richard; Nemeth, Dennis; Chen, Gim-Syang, Process tank with pressurized mist generation.
  10. McDermott,Wayne Thomas; Subawalla,Hoshang; Johnson,Andrew David; Schwarz,Alexander, Processing of semiconductor components with dense processing fluids and ultrasonic energy.
  11. Subawalla,Hoshang; Parris,Gene Everad; Rao,Madhukar Bhaskara; Kretz,Christine Peck, Processing of substrates with dense fluids comprising acetylenic diols and/or alcohols.
  12. Wirth,Paul Z.; Scranton,Dana R.; Aegerter,Brian, Sonic energy process chamber.
  13. Tanaka, Hiroshi; Nakao, Hidetoshi; Shindo, Naoki; Yamashita, Atushi; Hirayama, Tsukasa; Tsurusaki, Kotaro, Substrate drying processing apparatus, method, and program recording medium.
  14. Otsuka, Takahisa; Shibata, Tsuyoshi, Substrate processing apparatus.
  15. Otsuka, Takahisa; Shibata, Tsuyoshi, Substrate processing method.
  16. Grant, Robert W.; Petrone, Benjamin J.; Mumbauer, Paul D., Systems and methods for achieving isothermal batch processing of substrates used for the production of micro-electro-mechanical-systems.
  17. McDermott,Wayne Thomas; Roth,Dean Van John; Ockovic,Richard Carl, Transmission of ultrasonic energy into pressurized fluids.
섹션별 컨텐츠 바로가기

AI-Helper ※ AI-Helper는 오픈소스 모델을 사용합니다.

AI-Helper 아이콘
AI-Helper
안녕하세요, AI-Helper입니다. 좌측 "선택된 텍스트"에서 텍스트를 선택하여 요약, 번역, 용어설명을 실행하세요.
※ AI-Helper는 부적절한 답변을 할 수 있습니다.

선택된 텍스트

맨위로