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Semiconductor memory provided with data-line equalizing circuit 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • G11C-007/00
출원번호 US-0839403 (2001-04-23)
우선권정보 JP-0330165 (2000-10-30)
발명자 / 주소
  • Yasuhiko Taito JP
  • Akira Yamazaki JP
  • Fukashi Morishita JP
  • Nobuyuki Fujii JP
  • Mako Okamoto JP
출원인 / 주소
  • Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha JP
대리인 / 주소
    McDermott, Will & Emery
인용정보 피인용 횟수 : 10  인용 특허 : 1

초록

An equalizing circuit includes a plurality of N-channel MOS transistors for respectively setting a data line to a predetermined precharge voltage. The H-level voltage Vddb of a control signal for turning on these N-channel MOS transistors is set to a range higher than the sum of the precharge voltag

대표청구항

1. A semiconductor device operating under reception of an external power-supply voltage comprising:first and second data lines for transmitting a data signal having two data levels one of which corresponds to a first voltage; and a plurality of memory cells for holding said data signal, each of said

이 특허에 인용된 특허 (1)

  1. Kokubo Nobuyuki,JPX, Semiconductor memory device capable of attaining higher speed data reading and writing operations by making equalization operation suitable for single data line.

이 특허를 인용한 특허 (10)

  1. Shanks, Wayne E.; Bandy, William R.; Arneson, Michael R.; Powell, Kevin J., Charge pump apparatus and method used in an identification tag.
  2. Choe,Swee Yew, Half-rail differential driver circuit.
  3. Sim,Jae Yoon, Memory device that recycles a signal charge.
  4. Kirsch, Howard C., Method and system for accelerating coupling of digital signals.
  5. Kirsch, Howard C., Method and system for accelerating coupling of digital signals.
  6. Pyo, Mark; Jung, Hyun Taek, Semiconductor device and method of operating the same.
  7. Okahiro, Tetsuaki, Semiconductor device having equalizing circuit equalizing pair of bit lines.
  8. Ohtsuka,Hidefumi; Ohta,Kiyoto; Fujimoto,Tomonori, Semiconductor memory device.
  9. Ma, David Suitwai; Brucke, Paul Edward; Hoehler, Rainer, Semiconductor memory device and test method thereof using row compression test mode.
  10. Ishida, Terufumi; Nakai, Takahiro, Semiconductor storage device and information apparatus using the same.
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