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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0502420 (2000-02-11) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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대리인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 242 인용 특허 : 5 |
A multilayer dielectric stack is provided which has alternating layers of a high-k material and an interposing material. The presence of the interposing material and the thinness of the high-k material layers reduces or eliminate effects of crystallization within the high-k material, even at relativ
1. An integrated circuit (IC) structure for an IC comprising a multilayer dielectric stack comprising:a) a first dielectric layer comprising a first dielectric material overlying a semiconductor substrate, wherein the first dielectric material is selected from the group consisting of ZrO2, and HfO2;
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