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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0217130 (1998-12-21) |
우선권정보 | JP-0361572 (1997-12-26) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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대리인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 22 인용 특허 : 12 |
With a method according to the invention, a semiconductor article such as an SOI substrate having on the surface thereof a single crystal silicon film formed on an insulator is etched by heat treatment in a hydrogen-containing reducing atmosphere in order to remove the surface by a desired height an
1. A method for etching a semiconductor article having a surface comprising silicon, said method comprising a step of heat-treating said silicon surface in a hydrogen-containing reducing atmosphere, while keeping said silicon surface in a state disposed opposite to a surface comprising silicon oxide
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