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Tire Inspecting method and apparatus 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • G01N-021/00
  • G01M-001/08
출원번호 US-0666833 (2000-09-21)
우선권정보 JP-0268698 (1999-09-22)
발명자 / 주소
  • Tsuyoshi Anno JP
  • Hiroki Kunitake JP
  • Takahiro Gotou JP
  • Masamichi Kihara JP
출원인 / 주소
  • Bridgestone Corporation JP
대리인 / 주소
    Sughrue Mion, PLLC
인용정보 피인용 횟수 : 6  인용 특허 : 7

초록

The present invention is a tire inspecting apparatus comprising: a rotating unit, which rotates a tire having a specific point and a mark indicating a reference point; a sensor, which detects that the mark has been positioned in a predetermined direction with respect to a center of the tire; a detec

대표청구항

1. A tire inspecting method comprising steps of:detecting a mark indicating a reference point of a tire; and detecting automatically a position of a specific point of the tire which forms a rotation direction angle with respect to the reference point detected in said mark detecting step.

이 특허에 인용된 특허 (7)

  1. Wada Yasuo (Amagasaki JPX) Asano Kazuo (Kobe JPX), Apparatus and method for determining the profile of the tread of a tire.
  2. Wada Yasuo (Amagasaki JPX) Kajikawa Akira (Kobe JPX), Apparatus for determining shape of contact patch and contact pressure of tires.
  3. Dunn William Frank (Stow OH) Maloney John Michael (Medina OH) Hooper Michael Lynn (Akron OH) Maas Wayne David (Copley OH), Method for dynamic interference pattern testing.
  4. Burke Victor B. (1692 Kingsley Ave. Akron OH 44313), Noncontact gage system utilizing reflected light.
  5. Wright Forrest S. (Rochester MI) Zimmerman Ted R. (Rochester MI), Tilt head camera for interferometric analysis of tires.
  6. Needle David, Time domain reflectometry apparatus and method.
  7. Kaneko Tomoyuki,JPX ; Murayama Tokuhiro,JPX, Tire configuration judging device and tire classifying method using the same.

이 특허를 인용한 특허 (6)

  1. Wakazono, Takehiko, Marking device for use with a tire testing machine.
  2. Williams, David B.; Gephardt, Robert J.; Rummel, Samuel A., Method for inspecting an automotive wheel and associated apparatus.
  3. Wakazono, Takehiko; Matsubara, Yoshiaki; Mori, Maiko, Tire testing machine.
  4. Cuttino, James F., Tire testing systems and methods.
  5. Cuttino, James F., Tire testing systems and methods.
  6. Cuttino, James F., Tire testing systems and methods.
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