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[미국특허] Measuring device for measuring the accuracy of the position and track of a moving machine element 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • G01B-011/02
출원번호 US-0299216 (1999-04-22)
우선권정보 EP-0107582 (1998-04-25)
발명자 / 주소
  • Igor Kovac SI
출원인 / 주소
  • Institut fur Fertigungstechnik Technische Universitat Graz O. Univ. -Prof. Dipl. -Ing. Dr. Techn Adolf Frank AT
대리인 / 주소
    Brinks Hofer Gilson & Lione
인용정보 피인용 횟수 : 7  인용 특허 : 10

초록 ▼

A measuring system for measuring the accuracy of the position and track of a machine element moved along a predetermined track. The system includes a predetermined track along which a machine element moves relative thereto and a measuring device for measuring the position of the machine element alon

대표청구항 ▼

1. A measuring system for measuring the accuracy of the position and track of a machine element moved along a predetermined track, comprising:a predetermined track along which a machine element moves relative thereto; a measuring device for measuring the position of the machine element along the tra

이 특허에 인용된 특허 (10) 인용/피인용 타임라인 분석

  1. Gurny Werner H. (Wadgassen DEX), Coordinate measuring and testing machine.
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  2. Rieder Heinz (St. Pantaleon ATX) Schwaiger Max (Ostermiething ATX), Instrument for measuring lengths.
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  3. Callaghan ; Jr. Robert P. (98 Beach St. Westerly RI 02891), Long range sliding ball bar test gage.
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  4. Weule Hartmut (Karlsruhe DEX) Reichling Bernhard (Rlzheim DEX), Machine component accuracy measuring system.
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  5. Haas Franz,ATX, Measuring arrangement and method for checking the geometric and dynamic accuracy of two machine elements displaceable wi.
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  6. Affa, Alfred; Ernst, Alfons, Measuring system.
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  7. Seemann Henry R. (2420 N. 202 Pl. Seattle WA 98133), Method for non-destructive inspection of an aircraft.
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  8. Tounai Shuichi (Kitakyushu JPX) Yamamoto Minoru (Kitakyushu JPX), Method of calibrating an industrial robot.
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  9. Breyer Karl-Hermann (Heidenheim DEX) Aubele Eugen (Bohmenkirch DEX) Grupp Gnter (Bohmenkirch DEX) Ebersbach Peter (Essingen DEX) Wiedmann Wolfgang (Aalen DEX), Method of measuring the effective instantaneous position of a slide-mounted probe element or tool.
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  10. Spies, Alfons, Planar measuring instrument.
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이 특허를 인용한 특허 (7) 인용/피인용 타임라인 분석

  1. Sayers, David C.; Blommel, Robert M.; Kilthau, Robert E.; Keeney, Erik A.; Rosales, Nicole F.; Davis, Daren C., Apparatus and method for testing a transducer.
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  2. DeGeorge,Joseph P.; Young, Jr.,Robert R., Automated material handling laser alignment tool.
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  3. Brasel, Roger; Brasel, Nancy; Samuels, Stephen, Flow sentinel.
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  4. Forster, Gerhard; Hamann, Jens; Stoiber, Dietmar, Guiding device with measuring scale for guiding a moveable machine element of a machine.
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  5. Tondorf,Sebastian; Pechak,Peter, Method and device for applying a scale or scale support.
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  6. Bullmer, Ernst; Euchenhofer, Gerhard, Multi-hulled vessel having a compensating connection for reducing bearing load.
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  7. Lute, Jr., Thomas William; Shoffner, Brent William, System and method for inspection of a part with dual multi-axis robotic devices.
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