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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0332962 (1999-06-14) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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대리인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 78 인용 특허 : 12 |
A method of detecting systemic fault conditions in an intelligent electronic device is presented. The intelligent electronic device includes a microcontroller and associated memories. An algorithm (program) stored in a memory of the intelligent electronic device detects systemic fault conditions, i.
1. A method of detecting repeating events in an electrical distribution system at an intelligent electronic device of the electrical distribution system, comprising:generating an event signal indicative of a fault condition occurrence; comparing said event signal to a prior event signal indicative o
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