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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0690157 (2000-10-17) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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대리인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 1 인용 특허 : 6 |
Various circuit devices for contact defect inspection and methods of fabrication and use thereof are provided. In one aspect, a circuit device is provided that includes a substrate and an insulating film positioned on the substrate that has a plurality of openings therein. A plurality of members is
1. A circuit device, comprising:a substrate; an insulating film positioned on the substrate and having a plurality of openings therein; and a plurality of members, each of the plurality of members being positioned in one of the plurality of openings and having known dimensions, the plurality of memb
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