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Method and apparatus for thermally stabilizing flight times in time-of-flight mass spectrometers 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • H01J-049/00
  • H01J-049/40
  • B01D-059/44
출원번호 US-0336909 (1999-06-21)
우선권정보 DE-0027841 (1998-06-23)
발명자 / 주소
  • Horst Rache DE
출원인 / 주소
  • Bruker Daltonik GmbH DE
인용정보 피인용 횟수 : 16  인용 특허 : 5

초록

In a time-of-flight mass spectrometer, the entire flight tube, which is generally manufactured of stainless steel due to the necessary vacuum characteristics and is subject to a relatively high degree of thermal expansion, together with the spectrometer electronics is enclosed in an electromagnetic

대표청구항

1. A time-of-flight mass spectrometer for precise mass determinations of ions by measurement of their flight time, comprising:at least one flight tube; spectrometer electronics; a housing enclosing the flight tube and the electronics; and a flow control mechanism which guides air through the housing

이 특허에 인용된 특허 (5)

  1. Tyson ; II John (Wayne PA) Newman John W. (Berwyn PA), Apparatus and method for detecting leaks in packages.
  2. Haupt Walter (Leverkusen DEX) Warncke Heinz (Cologne DEX) Friebe Heinz W. (Ludwigshafen DEX) Reimold Dieter (Heddesheim DEX), Crack indicator for monitoring the insulation of liquefied gas tanks.
  3. Reichard Jeffrey A. (Menomonee Falls WI), Heat sink for electrical circuit components.
  4. Meddings Basil (Edmonton CAX), Quadrupole mass spectrometers.
  5. Franzen Jochen,DEX, Time-of-flight mass spectrometer with constant flight path length.

이 특허를 인용한 특허 (16)

  1. Aiki, Yoshiaki; Takahashi, Shunichi, Air ion measuring device.
  2. Steiner, Urs, Collision cells and methods of using them.
  3. Steiner, Urs, Collision cells and methods of using them.
  4. Steiner, Urs, Ion guide or filters with selected gas conductance.
  5. Steiner, Urs, Ion guide or filters with selected gas conductance.
  6. Gabeler, Stephen C., Methods and apparatus for time-of-flight mass spectrometer.
  7. Gabeler, Stephen C., Methods and apparatus for time-of-flight mass spectrometer.
  8. Bailey, Edward J.; Fields, Leighton M., Process analytic device with improved thermal stability.
  9. Black, Steven S.; Bailey, Edward J.; Fields, Leighton M., Process analytic device with improved thermal stability.
  10. Chiappetta, Anthony; Steiner, Urs; Ferrara, Keith, Reflectrons and methods of producing and using them.
  11. Chiappetta, Anthony; Steiner, Urs; Ferrara, Keith, Reflectrons and methods of producing and using them.
  12. Davis,Stephen C.; Earley,Lee; Hardman,Mark; Land,Adrian; Perelman,Gershon, Temperature compensated time-of-flight mass spectrometer.
  13. Yefchak, George; Myerholtz, Carl; Li, Gangqiang, Thermal drift compensation to mass calibration in time-of-flight mass spectrometry.
  14. Chiappetta, Anthony; Steiner, Urs; Ferrara, Keith, Time of flight tubes and methods of using them.
  15. Chiappetta, Anthony; Steiner, Urs; Ferrara, Keith, Time of flight tubes and methods of using them.
  16. Giles, Roger; Sudakov, Michael; Wollnik, Hermann, Time-of-flight mass spectrometer and a method of analysing ions in a time-of-flight mass spectrometer.
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