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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0763991 (2001-02-27) |
우선권정보 | NZ-0331638 (1998-08-28) |
국제출원번호 | PCT/NZ99/00142 (1999-08-27) |
§371/§102 date | 20010227 (20010227) |
국제공개번호 | WO00/13288 (2000-03-09) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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대리인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 52 인용 특허 : 7 |
A method of testing one or more cells and parameterising the results in order to obtain a characteristic curve/function from which cell discharge reserve time can be predicted from cell voltage. The test involves obtaining a plurality of data points representing the voltage of a cell as a function o
1. A method of calculating the discharge reserve time of one or more test cells including the steps of:obtaining a plurality of data points representing the direct relationship between voltage and charge remaining during an initial discharge of one or more nominal cells; parameterising the data poin
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