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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0711725 (2000-11-13) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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대리인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 93 인용 특허 : 10 |
A field effect transistor is formed with a sub-lithographic conduction channel and a dual gate which is formed by a simple process by starting with a silicon-on-insulator wafer, allowing most etching processes to use the buried oxide as an etch stop. Low resistivity of the gate, source and drain is
1. A method of forming a field effect transistor including steps ofdepositing regions of pad nitride on a silicon layer, etching said silicon layer to undercut said pad nitride to form a conduction channel between a source region and a drain region, depositing polysilicon where said silicon has been
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