[특허]Thin film spin probe

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Thin film spin probe 원문보기

IPC분류정보
국가/구분	United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)	G01R-031/00
출원번호	US-0623526 (2000-10-02)
우선권정보	JP-0024447 (1998-02-05)
국제출원번호	PCT/JP99/00264 (1999-01-25)
§371/§102 date	20001002 (20001002)
발명자 / 주소	Kazuhisa Sueoka JP
출원인 / 주소	Agency of Industrial Science and Technology JP
대리인 / 주소	Rader, Fishman & Grauer PLLC
인용정보	피인용 횟수 : 0 인용 특허 : 7

초록 ▼

The thin film spin probe is particularly suited for measurement of spin-polarized components which are parallel with or vertical to the surface of a specimen to be measured. A thin film 2 supporting another thin film of the active probing region is formed on substrate 1. The thin film 3 of the activ

대표청구항 ▼

1. A thin film spin probe comprising:a board, a first thin film formed on said board to support another thin film of the active probing region, and said another thin film of the active probing region formed above said first thin film, wherein a specified section of said board is removed by selective etching, wherein said board is made of GaAs, said first thin film to support said another thin film of the active probing region made of AlGaAs, and said another thin film of the active probing region made of GaAs.

이 특허에 인용된 특허 (7)

Dykaar Douglas R. (Gillette NJ) Keil Ulrich D. (Warren NJ) Kopf Rose F. (Greenbrook NJ) Laskowski Edward J. (Scotch Plains NJ) Zydzik George J. (Columbia NJ), AlxGa₁-x as probe for use in electro-optic sampling.
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Nakamura Takuya (Shizuoka JPX) Aoshima Shinichiro (Shizuoka JPX) Tsuchiya Yutaka (Shizuoka JPX), Electro-optical voltage detector.
상세보기

Takahashi Hironori (Hamamatsu JPX) Wakamori Kazuhiko (Hamamatsu JPX), Electrooptic probe for measuring voltage of an object having a high permittivity film fixed on an end face of a reflecti.
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Kamiguchi Yuzo,JPX ; Saito Akiko,JPX ; Koui Katsuhiko,JPX ; Yoshikawa Masatoshi,JPX ; Yuasa Hiromi,JPX ; Fukuzawa Hideaki,JPX ; Hashimoto Susumu,JPX ; Iwasaki Hitoshi,JPX ; Yoda Hiroaki,JPX ; Sahashi, Multi-layered thin-film functional device and magnetoresistance effect element.
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Lin Hung C. (8 Schindler Ct. Silver Spring MD 20903), Optical scanning method of testing material defects.
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Murashita Toru (Kanagawa JPX), Scanning tunneling microscope.
상세보기

Aoshima Shinichiro (Shizuoka JPX) Tsuchiya Yutaka (Shizuoka JPX), Voltage detector employing electro-optic material having a corner-cube shape.
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특허 원문 보기

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IPC 상위 출원인

TOSHIBA CORP (486)

MITSUBISHI ELECTRIC CORP (469)

FUJITSU LTD (354)

NEC CORP (353)

HITACHI LTD (313)

IPC 상세정보(version : 8)

특허정보

IPC Description

A 생활필수품

A62 인명구조; 소방(사다리 E06C)

A62B 인명구조용의 기구, 장치 또는 방법(특히 의료용에 사용되는 밸브 A61M 39/00; 특히 물에서 쓰이는 인명구조 장치 또는 방법 B63C 9/00; 잠수장비 B63C 11/00; 특히 항공기에 쓰는 것, 예. 낙하산, 투출좌석 B64D; 특히 광산에서 쓰이는 구조장치 E21F 11/00)

A62B-1/08 .. 윈치 또는 풀리에 제동기구가 있는 것

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관리번호, 국가코드, 자료구분, 상태, 출원번호, 출원일자, 공개번호, 공개일자, 등록번호, 등록일자, 발명명칭(한글), 발명명칭(영문), 출원인(한글), 출원인(영문), 출원인코드, 대표IPC

관리번호, 국가코드, 자료구분, 상태, 출원번호, 출원일자, 공개번호, 공개일자, 공고번호, 공고일자, 등록번호, 등록일자, 발명명칭(한글), 발명명칭(영문), 출원인(한글), 출원인(영문), 출원인코드, 대표출원인, 출원인국적, 출원인주소, 발명자, 발명자E, 발명자코드, 발명자주소, 발명자 우편번호, 발명자국적, 대표IPC, IPC코드, 요약, 미국특허분류, 대리인주소, 대리인코드, 대리인(한글), 대리인(영문), 국제공개일자, 국제공개번호, 국제출원일자, 국제출원번호, 우선권, 우선권주장일, 우선권국가, 우선권출원번호, 원출원일자, 원출원번호, 지정국, Citing Patents, Cited Patents

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SciTLDR

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SOLAR-0-70b-8bit

https://huggingface.co/upstage/SOLAR-0-70b-8bit
License : cc-by-nc-sa-4.0 (View the license)

Multilingual-E5-large

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License : MIT (View the license)

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A	생활필수품
A62	인명구조; 소방(사다리 E06C)
A62B	인명구조용의 기구, 장치 또는 방법(특히 의료용에 사용되는 밸브 A61M 39/00; 특히 물에서 쓰이는 인명구조 장치 또는 방법 B63C 9/00; 잠수장비 B63C 11/00; 특히 항공기에 쓰는 것, 예. 낙하산, 투출좌석 B64D; 특히 광산에서 쓰이는 구조장치 E21F 11/00)
A62B-1/08	.. 윈치 또는 풀리에 제동기구가 있는 것

내보내기 구분	파일저장 인쇄 메일전송
구성항목	기본정보 상세정보 관리번호, 국가코드, 자료구분, 상태, 출원번호, 출원일자, 공개번호, 공개일자, 등록번호, 등록일자, 발명명칭(한글), 발명명칭(영문), 출원인(한글), 출원인(영문), 출원인코드, 대표IPC 관리번호, 국가코드, 자료구분, 상태, 출원번호, 출원일자, 공개번호, 공개일자, 공고번호, 공고일자, 등록번호, 등록일자, 발명명칭(한글), 발명명칭(영문), 출원인(한글), 출원인(영문), 출원인코드, 대표출원인, 출원인국적, 출원인주소, 발명자, 발명자E, 발명자코드, 발명자주소, 발명자 우편번호, 발명자국적, 대표IPC, IPC코드, 요약, 미국특허분류, 대리인주소, 대리인코드, 대리인(한글), 대리인(영문), 국제공개일자, 국제공개번호, 국제출원일자, 국제출원번호, 우선권, 우선권주장일, 우선권국가, 우선권출원번호, 원출원일자, 원출원번호, 지정국, Citing Patents, Cited Patents
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