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Mechanical centering apparatus and method 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • G01D-021/10
출원번호 US-0564761 (2000-05-04)
발명자 / 주소
  • Brueck, Guenter
  • Hollmann, Joerg
  • Wagner, Kevin
출원인 / 주소
  • Raytheon Company
대리인 / 주소
    Schubert, William C.Lenzen, Jr., Glenn H.
인용정보 피인용 횟수 : 9  인용 특허 : 17

초록

A workpiece (22) having a periphery is centered using a centering apparatus (20) having a workpiece spindle (24, 28) operable to rotate the workpiece (22) about a rotational axis (26), and a centering head (29). The centering head (29) includes a mount (30) movable in a movement direction lying in a

대표청구항

A workpiece (22) having a periphery is centered using a centering apparatus (20) having a workpiece spindle (24, 28) operable to rotate the workpiece (22) about a rotational axis (26), and a centering head (29). The centering head (29) includes a mount (30) movable in a movement direction lying in a

이 특허에 인용된 특허 (17)

  1. Naumann Hans J. (Albany NY) Robotta Reinhard (Erlau DEX) Schroter Gunter (Chemnitz DEX) Thomas Volker (Einsiedel DEX), Apparatus for locating wheelsets.
  2. Nakamura Shinichi (Gyoda JPX) Tomoda Hideo (Kawaguchi JPX) Kochi Nobuo (Tokyo JPX), Automatic marking device for lensmeter.
  3. Kasukawa Shinji,JPX ; Fukuyama Akihiko,JPX ; Takahashi Koji,JPX, Cathode ray tube and manufacturing apparatus for the same.
  4. Ushiro Saburo (Gifu JPX), Centering device.
  5. Brueck Erhard (Heuchelheim DEX), Device for centering of optic lenses in a mechanical mounting, in particular during edge cutting and bevelling.
  6. Hutter Karl (VS-Muhlhausen DEX) Wagner Jacob (VS-Muhlhausen DEX), Eccentricity measuring apparatus.
  7. Burkhardt Horst (Truchtlaching DEX) Nelle Gnther (Bergen DEX), Error correction system for position measuring device.
  8. Ronge Heinz (Darmstadt DEX) Lehr Werner (Modautal DEX), Method and apparatus for centering a rotary body.
  9. Ishibai Isao (Tokyo JPX), Method and apparatus for testing aspherical lenses.
  10. Shimazutsu Hiroaki,JPX ; Tsumura Youichirou,JPX ; Hayashi Kanji,JPX ; Takeno Koichi,JPX, Method for measuring roll profile.
  11. Heimann Alfred (Aachen DEX), Method for truing sets of rail vehicle wheels by chip removal and under-floor machine for performing the method.
  12. Hollmann Joerg W. (Midland CAX), Non-contact measurement apparatus using bifurcated optical fiber bundle with intermixed fibers.
  13. Face Allen (14 James Landing Rd. Newport News VA 23606), Rolling digital surface measurement apparatus.
  14. Scott Paul James,GBX, Roundness measuring.
  15. Nemirovsky Robert (1117 Hyman Ave. Bayshore NY 11706), Self-centering holder for optical devices and the like.
  16. Seddon Peter,GBX ; Mills Michael,GBX ; Scott Paul James,GBX ; White Roy George,GBX ; Whittle Derek Roger,GBX, Surface form measurement.
  17. Bellwood Philip R. (Market Harborough GBX), Surface profile measurement of workpieces.

이 특허를 인용한 특허 (9)

  1. Calås, Peter; Kaminski, Jacek; Båstedt, Håkan; Högnäs, Stefan, Method and a device for effecting automatic centering of an annular workpiece on a rotating surface.
  2. George,Ian M., Method and apparatus for measuring centerline runout and out of roundness of a shaft.
  3. Igarashi, Kiyoshi, Method for centering grinding wheel in thread grinder and measurement device for centering.
  4. Ross, Harold F., Portable profiler for locomotive or railcar wheels.
  5. Amano, Yoshifumi; Kaneko, Satoshi, Positioning apparatus, a substrate processing apparatus and method for fixing a reference member.
  6. Ross, Harold F., System for and method of re-profiling locomotive and rail car wheels.
  7. Ross, Harold F., System for and method of re-profiling locomotive and rail car wheels.
  8. Yamashita, Tsugumaru; Fujimura, Noritaka; Hirao, Kenichiro, Work line module and work facility.
  9. Makiuchi, Akira; Kato, Ikuya; Goto, Keita; Somyo, Yoshihiro; Yabuki, Kenichi, Workpiece centering apparatus and workpiece centering method.

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