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Head for the linear dimension checking of mechanical pieces 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • G01B-003/00
  • G01B-005/00
출원번호 US-0762190 (2001-02-05)
국제출원번호 PCT/EP99/06305 (1999-08-27)
국제공개번호 WO00/17602 (2000-03-30)
발명자 / 주소
  • Danielli, Franco
  • Baruchello, Roberto
출원인 / 주소
  • Marposs Societa' per Azioni
대리인 / 주소
    Dickstein Shapiro Morin & Oshinsky LLP
인용정보 피인용 횟수 : 7  인용 특허 : 10

초록

A head for the linear dimension checking of mechanical pieces, including a casing that defines a longitudinal geometric axis, an arm--set movable with respect to the casing, a feeler coupled to the movable arm--set for touching the piece to be checked, a biased device arranged between the casing and

대표청구항

A head for the linear dimension checking of mechanical pieces, including a casing that defines a longitudinal geometric axis, an arm--set movable with respect to the casing, a feeler coupled to the movable arm--set for touching the piece to be checked, a biased device arranged between the casing and

이 특허에 인용된 특허 (10)

  1. Baruchello Roberto,ITX, Gauges for checking linear dimensions.
  2. Hellier Peter K. (Noth Nibley GBX) Harding Andrew J. (Bristol GBX), Measuring probe.
  3. Feichtinger Kurt,DEX, Multi-coordinate touch probe.
  4. Mrz Fridolin (Wolfertschwenden DEX), Multiple coordinate feeler apparatus.
  5. Butler Clive (Kings Langley GB2) Yang Qingping (Uxbridge GB2), Position determining probe.
  6. Possati ; deceased Mario (late of Bologna ITX) Manfredi ; heir by Gabriella (Bologna ITX) Possati ; heir by Alberto (Bologna ITX) Possati ; heir by Edoardo (Geneva NY CHX) Possati ; heir by Marco (Ne, Probe for checking linear dimensions.
  7. Peter K. Hellier GB; Graham R. Ferguson GB, Probe with vibration damped stylus.
  8. Feichtinger Kurt (Palling DEX), Sensing pin mounting arrangement for multicoordinate sensing head.
  9. McMurtry David R.,GBX, Touch probe.
  10. Abiru Hisanori (Hiroshima JPX) Nakao Yoshiaki (Hiroshima JPX) Imamura Yoshiaki (Hiroshima JPX) Sada Hidetaka (Hiroshima JPX), Tracer head.

이 특허를 인용한 특허 (7)

  1. Jordil,Pascal; Zanier,Adriano; Rouge,Claude, Adjustable probe.
  2. Gass, Bruno W.; Avelar, Manuel L., Electronic measuring device.
  3. Hajdukiewicz,Peter; McMurtry,David R, Kinematic coupling with damper.
  4. Tomelleri, Raffaele, Probe for gauging machines.
  5. Funabashi, Takanori; Yoshizumi, Keiichi, Shape measurement device probe and shape measurement device.
  6. Madlener,Wolfgang; Veil,Wilfried; Armbrust,Matthias, Touch probe.
  7. Baruchello,Roberto; Forni,Alessandro, Touch probe with transmission device and spring for urging the device against guide surfaces.
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