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Plasma processing 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • H01L-021/31
  • H01L-021/469
출원번호 US-0648730 (2000-08-25)
발명자 / 주소
  • Yoo, Woo Sik
출원인 / 주소
  • WaferMasters, Inc.
대리인 / 주소
    MacPherson Kwok Chen & Heid LLP
인용정보 피인용 횟수 : 2  인용 특허 : 15

초록

An apparatus and method for depositing a thin film on a semiconductor substrate. The apparatus includes a chamber or housing suited for holding a plurality of wafer platforms. The wafer platforms are arranged stacked in the chamber equidistant and electrically isolated from each other wafer platform

대표청구항

An apparatus and method for depositing a thin film on a semiconductor substrate. The apparatus includes a chamber or housing suited for holding a plurality of wafer platforms. The wafer platforms are arranged stacked in the chamber equidistant and electrically isolated from each other wafer platform

이 특허에 인용된 특허 (15)

  1. Muka Richard S., Apparatus and method for batch thermal conditioning of substrates.
  2. Kohman Wayne E. (Wilton CT) Maleri Joseph E. (Bridgeport CT), Load-lock vacuum chamber.
  3. Beinglass Israel ; Venkatesan Mali, Low temperature, high pressure silicon deposition method.
  4. Leiphart Shane P. ; Burton Randle D., Method for reducing surface charge on semiconductor wafers to prevent arcing during plasma deposition.
  5. Yeh Ching-Fa,TWX ; Chen Tai-Ju,TWX ; Kao Jiann-Shiun,TWX, Method of making a TFT having an ion plated silicon dioxide capping layer.
  6. Zajac John (San Jose CA) Mirkovich Ninko T. (Novato CA) Rathmann Thomas M. (Rohnert Park CA) Lachenbruch Roger B. (Petaluma CA), Modular article processing machine and method of article handling therein.
  7. Hansen Eric T. ; Becia William Warren ; Ives Thomas Wayne ; Mimken Victor B. ; Hall Randy Mark ; Krawzak Thomas, Multiple stage wet processing platform and method of use.
  8. Yamazaki Shunpei,JPX ; Sakama Mitsunori,JPX ; Hiroki Masaaki,JPX, Plasma CVD method.
  9. Saito Masasi (Yamanashi JPX) Iwata Teruo (Nirasaki JPX) Ishii Nobuo (Yamanashi JPX) Ikeda Towl (Kofu JPX) Saeki Hiroaki (Yamanashi JPX), Reduced pressure processing system and reduced pressure processing method.
  10. Yoshida Hideo,JPX, Semiconductor wafer chucking device and method for stripping semiconductor wafer.
  11. Turner Charles L. (Boise ID) Malinowski Darrin C. (Boise ID), Slotted cantilever diffusion tube system with a temperature insulating baffle system and a distributed gas injector syst.
  12. Gupta Anand ; Ponnekanti Srihari ; Rimple Gana A. ; Murugesh Laxman, Substrate processing system configurable for deposition or cleaning.
  13. Blum Rick ; Fairbairn Kevin ; Lane Christopher, Vertical dual loadlock chamber.
  14. Cook Robert C. ; Brors Daniel L., Vertical plasma enhanced process apparatus and method.
  15. Page Allen ; Caton Lynn, Waferless boat used as baffle during wafer processing.

이 특허를 인용한 특허 (2)

  1. Umemiya, Shigeyoshi; Maruyama, Kenji, Method of manufacturing a semiconductor device and method of forming a film.
  2. Murayama, Hitoshi; Shirasuna, Toshiyasu; Niino, Hiroaki; Aoki, Makoto, Vacuum processing method.
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