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Digital feature separation 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • H05K-003/30
출원번호 US-0802406 (2001-03-09)
발명자 / 주소
  • Hudson, Edison T.
출원인 / 주소
  • Infotech, A.G.
대리인 / 주소
    Thelen Reid & Priest LLP
인용정보 피인용 횟수 : 5  인용 특허 : 21

초록

A semiautomatic method for digital feature separation uses a trained sample selected by an operator using a software "eye dropper" tool or a similar region-of-interest tool to sample features of interest on a stored digital image of, for example, an electronic component such as pads, bumps or leads

대표청구항

A semiautomatic method for digital feature separation uses a trained sample selected by an operator using a software "eye dropper" tool or a similar region-of-interest tool to sample features of interest on a stored digital image of, for example, an electronic component such as pads, bumps or leads

이 특허에 인용된 특허 (21)

  1. DeCarlo John M., Automated system for placement of components.
  2. Crater Kenneth C. ; Goldman Craig E., Distributed interface architecture for programmable industrial control systems.
  3. Harada Yoshio (Akita JPX), Electronic component mounting system having a vacuum suction head with a magnetic sensor for locating an electronic comp.
  4. Stckel Gnter (Nuremberg DEX), Electronic control system for controlling several remote devices.
  5. Bender Martin P. (Naperville IL) McAndrew James P. (Aurora IL), Icon based process design and control system.
  6. Tani Nobuhiro,JPX, Image pickup and data processing apparatus having a plurality of special-purpose detachable substrates.
  7. Pieronek Donald S. (Waukesha County WI) Hodorowski John J. (Milwaukee County WI), Industrial controller with highly distributed processing.
  8. Nilendu Srivastava ; Cyriac Devasia ; Sung Ping Sun, Method and apparatus for chip placement.
  9. Hudson Edison T., Method and apparatus for reflective in-flight component registration.
  10. Pine Jerrold S. (Boca Raton) Peana Stefan (Boca Raton) Peana Daniel (Boca Raton FL), Method and apparatus for visual alignment of parts.
  11. Kent Kevin L., Method for adjusting an electronic part template.
  12. Schuster Rudolf (Heimstetten DEX) Raschke Josef (Gelting DEX) Bloessl Hermann (Munich DEX), Method for soldering components onto printed circuit boards.
  13. Hodgson R. W. (Box 55516 Sherman Oaks CA 91413), Microscope viewing apparatus for viewing a specimen image and an optical overlay pattern image in a comparison manner.
  14. Lewis Robert W. ; Tanner Matthew A. ; Walker Timothy K., Object-oriented computer program, system, and method for developing control schemes for facilities.
  15. Chen Richard M. (51-25 Goldsmith St. Elmhurst NY 11373), Orientation and control system for robots.
  16. Sogawa Koichi,JPX, Overlay target for precise positional determination.
  17. Maeda Shuichi (Kyoto JPX), Positioning device.
  18. Aono Toshihiro (Ibaraki JPX) Kamejima Kohji (Ibaraki JPX) Hamada Tomoyuki (Abiko JPX), Remote control apparatus and control method thereof.
  19. Hoffman Brian D. (Somerville NJ) Pollack Steven H. (Washington Crossing PA), Robotic system.
  20. LaRussa Joseph A. (Yorktown Heights NY), Robotic vision system.
  21. Dickinson Ian J. (Wilmington DE) Eichberger Horst (Karlsbad DEX) Messaros David W. (Wallingford PA) Walter Hans-Dieter (Ditzingen DEX), User interface for a remote diagnostic device.

이 특허를 인용한 특허 (5)

  1. Arase,Masayuki; Hatase,Takayuki, Apparatus for mounting electronic parts.
  2. Bentley, Jr., William E.; Bowe, Nathanial W.; Brignull, Alfred J.; DiRocco, Mark A.; Rudick, Thomas C., Information encoding using wirebonds.
  3. Luby, James H., Method and apparatus for an automated reference indicator system for photographic and video images.
  4. Hofmann, Udo; Sinn, Wolfram; Richter, Sergei, Method and device for the placement of electronic components.
  5. Mizukoshi, Masataka; Ishizuki, Yoshikatsu; Nakagawa, Kanae; Okamoto, Keishiro; Teshirogi, Kazuo; Sakai, Taiji, Method for forming bumps, semiconductor device and method for manufacturing same, substrate processing apparatus, and semiconductor manufacturing apparatus.
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