최소 단어 이상 선택하여야 합니다.
최대 10 단어까지만 선택 가능합니다.
다음과 같은 기능을 한번의 로그인으로 사용 할 수 있습니다.
NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
---|---|
국제특허분류(IPC7판) |
|
출원번호 | US-0133419 (2002-04-25) |
우선권정보 | JP-0037929 (1998-02-05) |
발명자 / 주소 |
|
출원인 / 주소 |
|
대리인 / 주소 |
|
인용정보 | 피인용 횟수 : 44 인용 특허 : 10 |
A siloxan polymer insulation film has a dielectric constant of 3.1 or lower and has --SiR2O-- repeating structural units with a C atom concentration of 20% or less. The siloxan polymer also has high thermal stability and high humidity-resistance. The siloxan polymer is formed by directly vaporizing
1. A siloxan polymer insulation film formed on a semiconductor substrate, obtainable by a method comprising the steps of: vaporizing a silicon-containing hydrocarbon compound to produce a material gas for siloxan polymer, said silicon-containing hydrocarbon having the formula SiαOα-1R2α-β+2(OCnH2
해당 특허가 속한 카테고리에서 활용도가 높은 상위 5개 콘텐츠를 보여줍니다.
더보기 버튼을 클릭하시면 더 많은 관련자료를 살펴볼 수 있습니다.
※ AI-Helper는 부적절한 답변을 할 수 있습니다.