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Advanced production test method and apparatus for testing electronic devices 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • G01R-031/02
출원번호 US-0845912 (2001-04-30)
발명자 / 주소
  • Gventer, Brian
출원인 / 주소
  • Nokia Mobile Phones Ltd.
대리인 / 주소
    Shaw, Steven A.
인용정보 피인용 횟수 : 17  인용 특허 : 5

초록

An advanced process for moving a Device under Test (DUT) from surface mount to completion and shipping. The process takes a raw populated Printed Circuit Board (PCB) panel or similar article of manufacture and conducts all possible solder, electrical, boundary scan and flashed self-testing. Individu

대표청구항

An advanced process for moving a Device under Test (DUT) from surface mount to completion and shipping. The process takes a raw populated Printed Circuit Board (PCB) panel or similar article of manufacture and conducts all possible solder, electrical, boundary scan and flashed self-testing. Individu

이 특허에 인용된 특허 (5)

  1. Mark A. Tverdy ; William C. Layer ; Lothar R. Kress ; Eric M. Matthews, Automated multi-chip module handler, method of module handling, and module magazine.
  2. Trevithick William J. (1620 Crespo Dr. LA Jolla CA 92037), Gemstone sorting apparatus and methods.
  3. McDonough Paul R. ; Oleary Dennis A., Radio frequency test probe with integral mount for circuit board under test.
  4. Watanabe Yutaka,JPX ; Nakamura Hiroto,JPX ; Yabe Toshio,JPX ; Chiba Michirou,JPX, Semiconductor device testing apparatus having presence or absence detectors issuing an alarm when an error occurs.
  5. Rabkin Richard ; Berling Ken ; Besuner Robert ; Lubin James ; Estrich David, Universal chip tester interface device.

이 특허를 인용한 특허 (17)

  1. He, Xiao-Lian, Antenna holding device.
  2. He, Xiao-Lian; Yang, Yong-Sheng, Antenna holding device for electromagnetic measurements.
  3. Razouane, Mohamed Ali; Boesen, Peter Vincent, Biometric interface system and method.
  4. Sirbu,Mihai, Expert system for intelligent testing.
  5. Jiang, Xueming; Zhu, Jiong; Zhang, Yan; Huang, Jinjuan; Yao, Li; Xiao, Tao; Xu, Yongjin; Xie, Feng, Fully-automatic verification system for intelligent electric energy meters.
  6. Boesen, Peter Vincent; Dragicevic, Darko, Manual operation assistance with earpiece with 3D sound cues.
  7. Ruff,Alan L.; Nakanishi,Matthew M.; Carlson,Mark J.; Johnson,Robert M.; Braun,Mark R., Method and apparatus for powering and loading software into a battery-less electronic device.
  8. Mok,Winston, Method and system for the interactive testing of assembled wireless communication devices.
  9. Chang,Chin Wei, Mobile phone positioning apparatus for radiation testing.
  10. Förstner, Friedrich Christian, Multi-point multiple sensor array for data sensing and processing system and method.
  11. Kingscott, Lisa, Production line PCB serial programming and testing method and system.
  12. Kingscott, Lisa, Production line PCB serial programming and testing method and system.
  13. Huelson, Phillip Wayne; Heughebaert, Laurent, System and method for testing displays.
  14. Fishel, Oleg, Systems and methods of providing intelligent handset testing.
  15. Sosinov, Arcady; Kamal Bahl, Sanat; Kothari, Love; Mehdiratta, Sameer, Systems, apparatus, and methods of charging electric vehicles.
  16. Gomes, Clemilton; Lisboa, Robson; Mazon, Jeffrey, Troubleshooting engine and method for using same.
  17. Boesen, Peter Vincent; Steiner, Martin, Wireless earpiece with walkie-talkie functionality.
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