최소 단어 이상 선택하여야 합니다.
최대 10 단어까지만 선택 가능합니다.
다음과 같은 기능을 한번의 로그인으로 사용 할 수 있습니다.
NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
---|---|
국제특허분류(IPC7판) |
|
출원번호 | US-0882048 (2001-06-18) |
발명자 / 주소 |
|
출원인 / 주소 |
|
대리인 / 주소 |
|
인용정보 | 피인용 횟수 : 3 인용 특허 : 6 |
A method is described for selectively depositing a GaN epitaxial layer on a substrate. The substrate is first patterned with a seed layer, preferably of AlN, and then the GaN epitxial layer is grown on the resulting patterned substrate by molecular beam epitaxy (MBE) such that growth occurs selectiv
1. A method of selectively depositing a GaN epilaxial layer on a substrate, comprising: selecting SiC as said substrate; growing an AlN seed layer on said substrate; patterning said AlN seed layer to expose portions of said substrate; and depositing said GaN epitaxial layer by ammonia-molecula
※ AI-Helper는 부적절한 답변을 할 수 있습니다.