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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0018289 (2002-03-08) |
우선권정보 | DE-0019149 (2000-04-18) |
국제출원번호 | PCT/DE01/01492 (2001-04-18) |
국제공개번호 | WO01/79790 (2001-10-25) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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대리인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 2 인용 특허 : 1 |
Devices for measuring at least one parameter of a medium flowing in a line, having an inlet conduit an outlet conduit, having the disadvantage in the prior art that liquids flowing into the inlet conduit can reach a measurement element and alter the measurement characteristic curve behavior of the m
Devices for measuring at least one parameter of a medium flowing in a line, having an inlet conduit an outlet conduit, having the disadvantage in the prior art that liquids flowing into the inlet conduit can reach a measurement element and alter the measurement characteristic curve behavior of the m
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