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3D-shape measurement apparatus 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • G01B-011/24
출원번호 US-0011280 (2001-12-11)
우선권정보 JP-0376406 (2000-12-11)
발명자 / 주소
  • Ono, Yuji
출원인 / 주소
  • Matsushita Electric Industrial Co., Ltd.
대리인 / 주소
    Wenderoth, Lind & Ponack, L.L.P.
인용정보 피인용 횟수 : 6  인용 특허 : 5

초록

In a 3D-shape measurement apparatus, a photoreceptive optical system for linearly scanning a target-to-be-measured with a scanning light beam and guiding a reflected light beam from the object to a scanning convergence lens is constituted such that the position of an apparent emission point of the r

대표청구항

In a 3D-shape measurement apparatus, a photoreceptive optical system for linearly scanning a target-to-be-measured with a scanning light beam and guiding a reflected light beam from the object to a scanning convergence lens is constituted such that the position of an apparent emission point of the r

이 특허에 인용된 특허 (5)

  1. Akimitsu Ebihara JP, Apparatus and method for measuring three-dimensional shape of object.
  2. Yamamura Hisae,JPX ; Matsuyama Yukio,JPX ; Ninomiya Takanori,JPX ; Sasazawa Hideaki,JPX, Method and apparatus for automatic focusing and a method and apparatus for three dimensional profile detection.
  3. Kakinoki Yoshikazu (Machida JPX) Nakashima Masato (Yokohama JPX) Koezuka Tetsuo (Hachioji JPX) Hiraoka Noriyuki (Kawasaki JPX) Tsukahara Hiroyuki (Atsugi JPX) Suto Yoshinori (Kawasaki JPX) Oshima Yos, Optical system for detecting three-dimensional shape.
  4. Osamu Nishikawa JP; Yoshinori Yamaguchi JP; Kiwame Tokai JP, Shape measuring system and method.
  5. Svetkoff Donald J. ; Rohrer Donald K. ; Kelley Robert W., Triangulation-based 3-D imaging and processing method and system.

이 특허를 인용한 특허 (6)

  1. Ono, Yuji, Apparatus and method for appearance inspection.
  2. Takahashi, Akira, Form measuring apparatus, structure manufacturing system, scanning apparatus, method for measuring form, method for manufacturing structure, and non-transitory computer readable medium storing program for measuring form.
  3. Gaspardo, Steven J.; DiMonte, Eugene L., Non-contact scanning system.
  4. Gaspardo, Steven J.; DiMonte, Eugene L., Non-contact scanning system.
  5. Bryll, Robert K.; Delaney, Mark L., Optical aberration correction for machine vision inspection systems.
  6. Mirallès, François; Houde, Régis; Beaudry, Julien; Hazel, Bruce; Cöté, Jean; Blain, Michel; Sarraillon, Serge, System and method for tridimensional cartography of a structural surface.
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