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Device, computer program product and method for indicating a function deviation of one or more details of manufacturing equipment using frequency component analysis 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • G01R-023/16
  • G06F-019/00
출원번호 US-0158165 (2002-05-31)
발명자 / 주소
  • Bankestrom, Olle
  • Gabrielsson, Goran
  • Gothberg, Anders
출원인 / 주소
  • Aktiebolaget SKF
대리인 / 주소
    Burns, Doane, Swecker & Mathis, LLP
인용정보 피인용 횟수 : 0  인용 특허 : 17

초록

A device, method and computer program product are disclosed for indicating a function deviation of one or more details of manufacturing equipment using frequency component analysis for analyzing deviations between a nominal product shape and an actual product shape of a product using surface data of

대표청구항

A device, method and computer program product are disclosed for indicating a function deviation of one or more details of manufacturing equipment using frequency component analysis for analyzing deviations between a nominal product shape and an actual product shape of a product using surface data of

이 특허에 인용된 특허 (17)

  1. Schiff Tod F. ; Southwood Mark E. ; Smith Michael J. ; Harms Michael J., Apparatus and method for gauging a workpiece.
  2. Albertazzi Gastone (Bologna ITX), Apparatus for checking diametral dimensions.
  3. Danielli Franco (Zola Predosa ITX), Apparatus for checking the roundness of rotating parts.
  4. Nagai Isao (Kobe JPX) Wada Kenzo (Ashiya JPX), Apparatus for diagnosing abnormalities in rotating machines.
  5. Moore David (28 Bridle Path Rd. Elmsthorpe ; Leicester LE9 7SA GB2), Apparatus for measuring the roundness of a surface of an object.
  6. Shattuck Charles W. (Goshen CT) Lestinsky Joseph J. (Torrington CT) Gerardi Michael W. (New Hartford CT), Bearing roller gauge.
  7. Canada Ronald G. ; Simpson Danny ; Czyzewski Zbigniew ; Nelson Thomas E., Hand held data collector and analyzer system.
  8. Ertl Friedrich (Ettlingen DEX) Bertz Hans-Ulrich (Kuppenheim DEX), Measuring apparatus for checking the dimensions of cylindrical workpieces.
  9. Whitehouse ; David John, Measuring instrument.
  10. Gocho Makio (Fukuyama JA) Ota Masanori (Fukuyama JA) Kuraishi Tatsuo (Fukuyama JA), Method and apparatus for measuring surface flatness of material.
  11. Burkhard Hayess DE, Method and apparatus for recognition of a shaft rupture in a turbo-engine.
  12. Barnett Andrew J. (Dearborn Heights MI) Ramirez Hector J. (Canton MI), Method for measuring surface waviness.
  13. de Groot Peter (Middletown CT), Method for profiling an object surface using a large equivalent wavelength and system therefor.
  14. Adams Horst,DEX, Method of and an apparatus for determining the surface condition of a workpiece.
  15. Fujinaga Masato (Itami JPX) Kotani Norihiko (Itami JPX), Method of describing a surface of an object after processing.
  16. Toshiharu Naito JP; Nobuyoshi Onogi JP; Takeyasu Taguchi JP, Tire air pressure estimating apparatus.
  17. Sato Kazuo (Kitaibaraki JPX) Takasumi Masakazu (Ibaraki JPX) Shiohata Kouki (Ibaraki JPX) Ohmori Motoji (Hitachi JPX) Shiga Motohiro (Hitachi JPX) Fujisawa Fumio (Mito JPX), Vibration diagnosis method and apparatus for rotary machines.
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