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Snapshot backscatter radiography system and protocol 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • G01N-023/201
출원번호 US-0348487 (2003-01-21)
발명자 / 주소
  • Jacobs, Alan M.
  • Dugan, Edward T.
출원인 / 주소
  • University of Florida
대리인 / 주소
    Akerman Senterfitt
인용정보 피인용 횟수 : 20  인용 특허 : 4

초록

A snapshot backscatter radiography (SBR) system and related method includes at least one penetrating radiation source, and at least one radiation detector. The radiation detector is interposed between an object to be interrogated and the radiation source. The radiation detector transmits a portion o

대표청구항

A snapshot backscatter radiography (SBR) system and related method includes at least one penetrating radiation source, and at least one radiation detector. The radiation detector is interposed between an object to be interrogated and the radiation source. The radiation detector transmits a portion o

이 특허에 인용된 특허 (4)

  1. Huang Suzhou ; Hynes Michael V., Coded aperture X-ray imaging system.
  2. Gomberg Henry J. (Ann Arbor MI), Method and apparatus for the noninvasive interrogation of objects.
  3. Gomberg Henry J. (Ann Arbor MI) McEllistrem Marcus (Lexington KY), Neutron scatter method and apparatus for the noninvasive interrogation of objects.
  4. Lee Grodzins ; William Adams, Separate lateral processing of backscatter signals.

이 특허를 인용한 특허 (20)

  1. Turner, D. Clark; Whitaker, Ross, 3D backscatter imaging system.
  2. Perron, Luc; Bouchard, Michel R.; Xu, Chen; Roy, Sébastien; Bergeron, Alain; Bergeron, Eric, Apparatus, method and system for screening receptacles and persons, having image distortion correction functionality.
  3. Kotowski, Andreas; Agrawal, Neeraj, Cargo scanning system with boom structure.
  4. Morton, Edward James, Covert surveillance using multi-modality sensing.
  5. Morton, Edward James, High energy X-ray inspection system using a fan-shaped beam and collimated backscatter detectors.
  6. Morton, Edward James, High energy X-ray inspection system using a fan-shaped beam and collimated backscatter detectors.
  7. Shedlock, Daniel; Jacobs, Alan M.; Jacobs, Sharon Auerback; Dugan, Edward, Method and apparatus for shadow aperture backscatter radiography (SABR) system and protocol.
  8. Bergeron, Eric; Perron, Luc; Bergeron, Alain, Method and system for screening cargo containers.
  9. Morton, Edward James, Portable security inspection system.
  10. Jacobs,Alan M.; Dugan,Edward T.; Shedlock,Daniel, Radiography by selective detection of scatter field velocity components.
  11. Torek, Paul; Gorzen, Daniel F.; Chaganti, Kalyani, Scrap metal sorting system.
  12. Jacobs,Alan M.; Dugan,Edward T., Snapshot backscatter radiography (SBR) systems including system having dynamic collimation.
  13. Georgeson, Gary E.; Safai, Morteza; Edwards, William T, System and method for determining dimensions of structures/systems for designing modifications to the structures/systems.
  14. Safai, Morteza; Georgeson, Gary E.; Edwards, William T., System and method for improved field of view X-ray imaging using a non-stationary anode.
  15. Safai, Morteza; Georgeson, Gary E.; Edwards, William T., System and methods for x-ray backscatter reverse engineering of structures.
  16. Safai,Morteza; Georgeson,Gary E.; Edwards,William T., System and methods for x-ray backscatter reverse engineering of structures.
  17. Feldmann, Michael Steven; Saggio, III, Frank; Paasche, Timothy John; Turner, Mark Lawrence; Ingersoll, John Andrew, System and methods of detecting an intruding object in a relative navigation system.
  18. Gudmundson, Dan; Perron, Luc, User interface for use in security screening providing image enhancement capabilities and apparatus for implementing same.
  19. Shedlock, Daniel; Hammerschmidt, Andrew, X-ray backscatter device for wellbore casing and pipeline inspection.
  20. Parikh, Shehul Sailesh; Sankaranarayaran, Balamurugan; Abel, Jeffrey Bryan; Kumar, Siva; Bendahan, Joseph, X-ray inspection system that integrates manifest data with imaging/detection processing.
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