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Method and device for machinery diagnostics and prognostics 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • G01F-001/56
출원번호 US-0121647 (2002-04-12)
발명자 / 주소
  • Crowder, Jr., George E.
대리인 / 주소
    Petit, Michael G.
인용정보 피인용 횟수 : 13  인용 특허 : 9

초록

Machinery diagnostics and prognostics is an emerging engineering field that seeks to accurately determine the operational health of a machine without waiting for the machine to fail, performing maintenance that may not yet be required or, in the worst case, performing unnecessary maintenance that in

대표청구항

1. A computer readable medium having instructions encoded thereon that cause a computer system to perform an accurate machine health prediction upon receipt of raw monitored machine operating variables data from said machine, the instructions on the computer readable medium comprising: (a) a data

이 특허에 인용된 특허 (9)

  1. Badami Vivek Venugopal, Appliance performance control apparatus and method.
  2. Shteinhauz, Gregory David; Johanning, Gregory Scott, Bias method for identifying and removing machine contribution to test data.
  3. Reid Alan J. ; Lofall Dean A., Diagnostic network with automated proactive local experts.
  4. Chandler Larry S., Discriminate reduction data acquisition.
  5. Piety, Kenneth R.; Reeves, Todd W.; Edwards, Jason M.; Rich, Michael D., Expert analysis modules for machine testing.
  6. Spoerre Julie K. (Tallahassee FL) Lin Chang-Ching (Tallahassee FL) Wang Hsu-Pin (Tallahassee FL), Machine performance monitoring and fault classification using an exponentially weighted moving average scheme.
  7. Ghanime, George H., Remote notification of machine diagnostic information utilizing a unique email address identifying the sensor, the associated machine, and the associated machine condition.
  8. Mochizuki Yasumasa (Shizuoka JPX) Yoshino Tomoaki (Shizuoka JPX) Hasegawa Shinichi (Shizuoka JPX) Sano Masakazu (Shizuoka JPX), System and method for predicting failure in machine tool.
  9. Dister Carl J. ; Discenzo Frederick M., System architecture for on-line machine diagnostics.

이 특허를 인용한 특허 (13)

  1. Schultz,Paul C., Condition assessment system and method.
  2. Nowozin, Reinhard Sebastian Bernhard, Decision tree training in machine learning.
  3. Cottrell, Michael Edward; Innes, Kenneth John; Kong, James Po-Cheung; Lickteig, Charles Anthony; Parchewsky, Robert Frank; Schultheis, Steven Michael; Ying, Daniel Dazhang, Framework and method for monitoring equipment.
  4. Rumi,Eric M.; Zepf,Paul J.; Baird,John; Norris Lue,Chris; Rintjema,Tim; Wu,Yvonne, Industrial process data acquisition and analysis.
  5. Kong, James Po, Method and system for state encoding.
  6. Kong, James Po, Method and system for state encoding.
  7. Harris,John M., Method and system of forecasting unscheduled component demand.
  8. Carson, Robert W.; Huntley, Brian, Method for assessing and forecasting the operational health of a telephone network switch.
  9. Vichare, Nikhil M.; Pecht, Michael G., Method to extract parameters from in-situ monitored signals for prognostics.
  10. Beausoleil, Peter Andrew; Parchewsky, Robert Frank, Reciprocating compressor simulator and a computer system using the same.
  11. Cottrell, Michael Edward; Dang, Chester Bing; Gul, Rong Pieter; Hardeveld, Wilhelmus Antonius; Harnish, Brett Richard Alexander; Innes, Kenneth John; Kong, James Po; Van Latum, Mark Theodoor; Lee, Kwi-Cheng; Lickteig, Charles Anthony; Parchewsky, Robert Frank; Polley, Matthew Charles; Ravesloot, Wilhelmus; Schultheis, Steven Michael; Ying, Daniel Dazhang; Zolkiewski, George Mark, Remote monitoring systems and methods.
  12. Kong, James Po; Lickteig, Charles Anthony; Parchewsky, Robert Frank, Remote monitoring systems and methods.
  13. Goebel,Kai Frank; Bonissone,Piero Patrone; Yan,Weizhong; Eklund,Neil Holger White; Xue,Feng; Qiu,Hai, System and method for equipment life estimation.
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