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Vacuum chamber with recessed viewing tube and imaging device situated therein 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • H01J-037/20
  • H01J-037/18
출원번호 US-0419035 (2003-04-18)
발명자 / 주소
  • Strait, David Robert
출원인 / 주소
  • Imago Scientific Instruments Corporation
대리인 / 주소
    Fieschko, Esq. Craig A.
인용정보 피인용 횟수 : 1  인용 특허 : 6

초록

A vacuum chamber includes chamber walls separating a chamber interior and a chamber exterior, with one or more access ports defined in the chamber walls. A viewing tube extends from the chamber exterior into the chamber interior and terminates in a window. A positioner for imaging devices is then pr

대표청구항

1. A vacuum chamber comprising:a. chamber walls interposed between a chamber interior and a chamber exterior;b. a port defined in the chamber walls;c. a viewing tube attending from the port into the chamber interior, wherein the viewing tube is closed by an at least partially transparent window;d. a

이 특허에 인용된 특허 (6)

  1. Kelly Thomas F. (Madison WI) Camus Patrick P. (Middleton WI) Larson David J. (Middleton WI) Holzman Louis M. (Madison WI) Bajikar Sateeshchandra S. (Madison WI), High mass resolution local-electrode atom probe.
  2. Kelly Thomas F. (Madison WI) McCarthy Jon J. (Middleton WI) Mancini Derrick C. (Madison WI), High-repetition rate position sensitive atom probe.
  3. Goudonnet Jean-Pierre (12F rue Isabelle du Portugal 21000 Dijon FRX) LaCroute Yvon (13 rue Champs Fleuris 21850 Saint-Apollinaire FRX), Installation for the study or the transformation of the surface of samples placed in a vacuum or in a controlled atmosph.
  4. Sun James J., Method and apparatus for surface inspection in a chamber.
  5. Holzman Louis M. (Madison WI) Kelly Thomas F. (Madison WI) Camus Patrick P. (Middleton WI), Position sensitive detector providing position information with enhanced reliability and performance.
  6. Brooks Norman B. (Carlisle MA) Olmstead Michael M. (Bedford MA), Wafer transport system.

이 특허를 인용한 특허 (1)

  1. Bunton, Joseph Hale; Olson, Jesse D.; Lenz, Daniel R., Laser atom probe methods.
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