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[미국특허] Measurement of concentration of material in a process fluid 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • G06F-019/00
출원번호 US-0046647 (2001-10-29)
발명자 / 주소
  • Lovegren, Eric R.
  • Schumacher, Mark S.
  • Johnson, James A.
  • Diede, Kurt C.
출원인 / 주소
  • Rosemount Inc.
대리인 / 주소
    Westman, Champlin & Kelly, P.A.
인용정보 피인용 횟수 : 5  인용 특허 : 36

초록

An apparatus for measuring concentration of a material in a process fluid includes an antenna configured to contact the process fluid and a pulse generator coupled to the antenna to generate a microwave transmit pulse through the antenna. A pulse receiver receives a reflected pulse from the antenna

대표청구항

1. A process transmitter for concentration of a material in a process fluid, comprisingan antenna configured to contact the process fluid;a pulse generator coupled to configure the antenna to generate a microwave transmit pulse through the antenna;a pulse receiver coupled to the antenna configured t

이 특허에 인용된 특허 (36) 인용/피인용 타임라인 분석

  1. Ross Gerald F. (Lexington MA), Apparatus and method for sensing a liquid with a single wire transmission line.
  2. Nelson Steven D. (Bradenton FL) Champion James R. (Sarasota FL) Leonard James S. (Parrish FL), Apparatus and method for sensing fluid level.
  3. Rao B. Rama (Lexington MA) Robbins Kenneth W. (Wilmington MA), Apparatus and method of measuring the level of a liquid.
  4. Hook William R.,CAX, Apparatus and methods for time domain reflectometry.
  5. Ogawa Kenji (Hyogo JPX), Apparatus for detecting fuel dielectric constant.
  6. Adams Horst,DEX ; Seitz Kurt,CHX, Apparatus for measuring a powder mass flow.
  7. Schreiner Stephan (Maricopa AZ), Bandwidth synthesized radar level measurement method and apparatus.
  8. Neel Michael M. (Ridgecrest CA) Schiavone Frank J. (Ridgecrest CA), Dielectric constant measurement probe assembly and apparatus and method.
  9. Take Masafumi (Tokyo JPX), Dielectric constant-measuring apparatus.
  10. Van Der Pol Ronald (Venlo NLX), Electrical device for liquid level measurements in industrial tanks and the like.
  11. McEwan Thomas E. (Livermore CA), Electronic multi-purpose material level sensor.
  12. Lau Jrgen (Weil am Rhein DEX), Filling level meter.
  13. McEwan Thomas E. (Livermore CA), High accuracy electronic material level sensor.
  14. Johnson Walter J. (Renton WA), ID microwave holographic sensor.
  15. Meinel Holger,DEX, Level measuring arrangement.
  16. Cournanc Thomas C.,CAX, Material interface level sensing.
  17. Edvardsson Kurt Olov (Linkoping SW), Measurement of contents of tanks etc. with microwave radiations.
  18. Meszaros Gregory A. ; Marquart Roger ; Walker David J.,CAX ; Estocin John G. ; Kemeny Frank L., Measuring the thickness of hot slag in steelmaking.
  19. Meszaros Gregory A. ; Marquardt Roger ; Walker David I.,CAX ; Estocin John G. ; Kemeny Frank L., Measuring the thickness of materials.
  20. Vestergaard Peter (Holeby DKX) Moller Gunther (Nakskov DKX) Madsen Rud F. (Nakskov DKX), Method and apparatus for measuring the concentration of fluids.
  21. Mowrey Gary L. (Jefferson Boro PA) Ganoe Carl W. (Pittsburgh PA) Monaghan William D. (Dravosburg PA), Method and apparatus for monitoring the thickness of a coal rib during rib formation.
  22. Richardson Alan Trevor,GBX ; Oswald Gordon Kenneth Andrew,GBX, Method of an apparatus for detecting the displacement of a target.
  23. Marrelli John David, Methods for optimizing sampling of a petroleum pipeline.
  24. Jean, Buford Randall; Whitehead, Frederick Lynn; Daniewicz, John Lee, Microwave sensor having improved sensitivity.
  25. Diede Kurt C. ; Richter Brian E., Multiple process product interface detection for a low power radar level transmitter.
  26. Scott Bentley N. ; Shortes Samuel R., RF probe for montoring composition of substances.
  27. Burger Stefan (Freiburg DEX) Otto Johanngeorg (Aalen-Hofherrnweiler DEX), Radar distance measuring device.
  28. Kipp Ronald W. (Croydon PA), Radar ranging system for use with sloping target.
  29. Davis John Leslie,CAX, Roadway ground penetrating radar system.
  30. Cummings Donald D. (Greenwood IN) Wartmann Gerd (Greenwood IN) Perdue Kenneth L. (Franklin IN), Sensor apparatus for process measurement.
  31. Kuwabara Ken-ichi (Kanagawa JPX), Silver halide photographic material comprising two kinds of monodisperse emulsions differing in mean grain size.
  32. Buckland Eric L. (Raleigh NC) Nishimura Masayuki (Durham NC), Simultaneous bi-directional optical time domain reflectometry method.
  33. Barr Thomas A. (Huntsville AL), Thickness measurement system.
  34. Champion James R., Time-based method and device for determining the dielectric constant of a fluid.
  35. Gnamm Bernhard (Charleston SC) Bareiss Alexander (Charleston SC), Tubular elastic frame with a continuous slot spanned by a filter material.
  36. Kielb John A. (Eden Prairie MN) Nelson Richard L. (Chanhassen MN) Manicor Scott D. (Minneapolis MN), Two-wire level transmitter.

이 특허를 인용한 특허 (5) 인용/피인용 타임라인 분석

  1. K철hler,Kurt; Fundinger,Robin, Method and apparatus for determining the moisture content of a material.
  2. Malinovskiy, Alexey; Schroth, Herbert; Spanke, Dietmar, Method for fill level measurement.
  3. McEwan,Thomas Edward, Reflection free launcher for electromagnetic guide wire.
  4. Garnett, John Everett; Ifft, Stephen Arthur; Peluso, Marcos A. V.; Wiklund, David Eugene, Sensor tube with reduced coherent vortex shedding.
  5. Dayal, Yogeshwar; Splichal, William Francis; Sawyer, Steven D.; Gardner, Eric Rankin; Lentner, Bruce J.; Eisermann, Philip O., Systems and methods for remotely measuring a liquid level using time-domain reflectometry (TDR).

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