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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0032098 (2001-12-31) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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대리인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 5 인용 특허 : 48 |
A first inspection functionality is provided to obtain information about a first attribute at a conductor location on an electrical circuit. A second inspection functionality is provided to obtain information about a second attribute at the conductor location. A combination of first attribute inform
1. An electrical circuit inspection apparatus comprising:a first inspection functionality operative to sense reflectivity of a conductor location on an electrical circuit to obtain first attribute information with respect to said conductor location; a second inspection functionality operative to sen
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