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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0883284 (2004-06-30) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 12 인용 특허 : 5 |
The present disclosure pertains to a method of preparing a test specimen for testing of the bonding strength of a layer of additive material to a crystalline substrate, or testing of the bonding strength of one layer of additive material to a second layer of additive material, where both layers of a
1. A test specimen preparation fixture used to prepare semiconductor specimens for film adhesion testing, wherein said test specimen preparation fixture comprises:a) a base having an upward-facing wedge structure over a portion of an upper surface of said base; and b) a cover having downward-facing
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