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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0687131 (2003-10-16) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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대리인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 28 인용 특허 : 15 |
A method for analyzing materials in an object includes acquiring x-ray projection data of the object at high energy and at low energy for a plurality of views. The acquired x-ray projection data is utilized in a material decomposition to determine material densities at each pixel for two selected ba
What is claimed is: 1. A method for analyzing materials in an object, said method comprising: acquiring x-ray projection data of the object at high energy and at low energy for a plurality of views; utilizing the acquired x-ray projection data in a material decomposition to determine material densi
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