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[미국특허] Apparatus and method for sensing defects in temperature sensors 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • G01K-015/00
출원번호 US-0191482 (2002-07-10)
우선권정보 KR-2001-41471(2001-07-11)
발명자 / 주소
  • Park,Ki Hwan
  • Hwang,Jong Sub
  • Kim,Jeong Hwan
출원인 / 주소
  • Samsung Electronics Co., Ltd.
대리인 / 주소
    Volentine Francos &
인용정보 피인용 횟수 : 3  인용 특허 : 25

초록

In a temperature controlling apparatus for controlling temperature by using a temperature sensor, a defect state of the temperature sensor is sensed by sensing a change of specific resistance of the temperature sensor. A temperature value of the temperature sensor is detected at each unit time durin

대표청구항

What is claimed is: 1. A method of sensing a defect of a temperature sensor adapted to measure a temperature of a chemical solution, comprising: detecting a temperature value of the temperature sensor at each unit time over a time period during exchanging of the chemical solution or stopping of a p

이 특허에 인용된 특허 (25) 인용/피인용 타임라인 분석

  1. Mitsutani Noritake,JPX ; Fujita Tomohiro,JPX ; Mizuno Hideaki,JPX, Abnormality detector apparatus for a coolant apparatus for cooling an engine.
  2. Price Barry Leonard,GBX ; Roberts Graham Richard,GBX ; Wightman David Richard,GBX, Apparatus and method for measuring heat power consumed in or extracted from a region.
  3. Bronlund, Ole Einar, Apparatus for calibration of temperature sensors.
  4. Tittle Douglas L. (Willoughby OH), Chemical process control system.
  5. Muramoto Yutaka (Fujinomiya JPX), Electronic clinical thermometer.
  6. Bray Steven C., Electronic transmission shift control.
  7. Gilbert Kendall E. (Schenectady NY) Johnson Daniel (Rexford NY) Macier Robert Raymond (Saratoga Springs NY), Gas turbine temperature sensor validation apparatus and method.
  8. Qin S. Joe (Austin TX) Dunia Ricardo H. (Austin TX) Hayes Randall L. (Georgetown TX), Method and apparatus for detecting and identifying faulty sensors in a process.
  9. Schricker David R. (Dunlap IL), Method and apparatus for estimating internal brake energy.
  10. Hirota Norris S. (Milpitas CA), Method and apparatus for in situ testing of heat exchangers.
  11. Blankenagel, John A., Method and apparatus for testing a temperature sensor.
  12. Usher John D. ; Kirkpatrick Todd A., Method and system for testing the accuracy of a thermocouple probe used to measure the temperature of molten steel.
  13. Jung Chul-Hwa,KRX, Method for controlling engine during malfunction of coolant temperature sensor.
  14. Ogawa Masaki (Aichi JPX) Kato Yoshiaki (Aichi JPX), Method for diagnosing abnormality of sensor.
  15. Straka Derrick,DEX ; Konig Gunter,DEX, Method of calibrating and/or monitoring a controlled-temperature heating device.
  16. Cooper Emanuel Israel ; Datta Madhav ; Dinan ; Jr. Thomas Edward ; Kanarsky Thomas Safron ; Pike Michael Barry ; Shenoy Ravindra Vaman, Methods for monitoring components in the TiW etching bath used in the fabrication of C4s.
  17. Koether Bernard G. (4 Nutmeg La. Westport CT 06880), Primary thermostat using cooking computer temperature probe with control transfer upon probe failure.
  18. Jackson ; Jr. John M. ; Jamison Chris M., Self-calibrating temperature controller.
  19. Jerde James B. (Scotts Valley CA) Vasbinder James E. (San Jose CA), Self-calibrating temperature probe apparatus and method for use thereof.
  20. Stone W. Porter (Walpole NH), Self-calibrating thermometer.
  21. D'Arcy H. Lorimer ; Charles H. Applegarth, Semiconductor manufacturing system with getter safety device.
  22. Kelly Ronald W,GBX, Sensor fault detection system.
  23. Gross Kenneth C. (Bolingbrook IL) Hoyer Kristin K. (Chicago IL) Humenik Keith E. (Columbia MD), System for monitoring an industrial process and determining sensor status.
  24. Chang Daniel Y. (Canoga Park CA) Waldron Bradley C. (Woodland Hills CA) Walthers ; Sr. James M. (Chatsworth CA), Temperature calibration system.
  25. Nickol Jerry L., Temperature sensing probe comparator.

이 특허를 인용한 특허 (3) 인용/피인용 타임라인 분석

  1. Klett, James W.; Rios, Orlando; Kisner, Roger, AC induction field heating of graphite foam.
  2. Klett, James W.; Rios, Orlando; Moyers, Richard L.; Monk, John E.; Kisner, Roger, Infrared signal generation from AC induction field heating of graphite foam.
  3. Amato, Frank, Quality control material monitor.

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