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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0864509 (2001-05-24) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 19 인용 특허 : 367 |
IEEE 1149.1 Test Access Ports (TAPs) may be utilized at both IC and intellectual property core design levels. TAPs serve as serial communication ports for accessing a variety of embedded circuitry within ICs and cores including; IEEE 1149.1 boundary scan circuitry, built in test circuitry, internal
The invention claimed is: 1. A process of selecting different 1149.1 TAP domain arrangements within an integrated circuit comprising: A. performing an 1149.1 instruction shift operation through a first 1149.1 TAP domain arrangement; B. performing an 1149.1 instruction update operation at the end of
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