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Device and process for profile measurement 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • G01B-003/14
  • G01B-005/20
출원번호 US-0808433 (2004-03-25)
우선권정보 FR-03 50077(2003-03-28)
발명자 / 주소
  • Paillarse,Bernard
  • Jamault,Pierre
  • Thibault,Dominique
출원인 / 주소
  • Snecma Moteurs
대리인 / 주소
    Oblon, Spivak, McClelland, Maier &
인용정보 피인용 횟수 : 2  인용 특허 : 15

초록

A hand-operated feeler includes a rod on a crossed movement table mounted on a support fitted with an immobilization device at a fixed reference as compared to the part to be measured and a processing unit configured to store and process the results. Such a device results in rapidly measuring the co

대표청구항

The invention claimed is: 1. A measurement device configured to measure a profile of a part, comprising: a feeler; a manipulation knob connected to the feeler; a support; a table with two perpendicular movements, the table linking the support to the feeler; a pair of displacement transducers situat

이 특허에 인용된 특허 (15)

  1. Cross Michael (Monroeville PA) Cady Albert B. (Plum Boro PA), Apparatus and method for automated inspection of a surface contour on a workpiece.
  2. Badinger Michael A. (New Orleans LA), Apparatus and method for use in inspecting a joint.
  3. Nagaike, Yasunari; Nakamura, Yasushi; Ito, Yoshiaki, Apparatus for measuring a surface profile.
  4. Ange Colin K. (Charlotte NC) Rouse Marshall J. (Waxhaw NC), Bore diameter measurement gage.
  5. Herzog Klaus (Oberkochen DEX) Breyer Karl-Hermann (Heidenheim DEX), Coordinate-measuring machine.
  6. Campanile Lucio Flavio,DEX, Correcting measurement errors.
  7. Gass, Bruno W.; Avelar, Manuel L., Electronic measuring device.
  8. Maag Oskar (Zurich CHX), Gear tester for profile and lead testing.
  9. Evans Michael (Germantown OH) Lombardo A. Michael (Bellbrook OH) Parker Michael A. (Franklin OH) Ullery Steven (West Carrollton OH) Denison ; Jr. Charles W. (Germantown OH), Generative measuring system.
  10. Newton, Herbert H., Knife alignment sensor.
  11. LaTulippe, Michael T., Methods and apparatus for securing components for inspection.
  12. Nishimura, Kunitoshi; Hidaka, Kazuhiko; Okamoto, Kiyokazu, Microscopic geometry measuring device.
  13. Bieg Lothar F. (Louisville CO), Precision contour gage.
  14. Rocks, Joseph C., Printing press blanket gauge.
  15. Yoshizumi Keiichi,JPX ; Kubo Keishi,JPX ; Kusumoto Shoji,JPX ; Uchimura Kiyokazu,JPX ; Kanashima Keinosuke,JPX, Profile measuring apparatus.

이 특허를 인용한 특허 (2)

  1. Briffa, Patrick; Cabanis, Patrick; Le Floc'h, Rene; Marceau, Christian Armand; Thibault, Dominique; Pasquer, Vincent, Device for inspecting tangential recesses in a rotor disk.
  2. Taniuchi,Nobuyuki; Kubota,Kazuhiro, Surface roughness/contour shape measuring apparatus.
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